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标题:
IEC61345
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作者:
lanyuer0815
时间:
2010-9-19 14:22
标题:
IEC61345
NORME
! o6 z% ]' \/ f: D% g
INTERNATIONALE
* Q G5 w8 }' d! M/ k1 Y0 T
CEI
Y& W8 s3 T$ K1 s# x
IEC
, K$ X7 C( r& ~7 i2 e6 [) K% }
INTERNATIONAL
# B) a( y* n' X( M' Z. j. q( I, E1 W
STANDARD
3 @& H; S1 }- p# n
61345
, W& m( y3 U1 ~7 ~
Première édition
5 e/ n$ C7 `# t% I" f7 x# S: G
First edition
% q& Z, a( f% f
1998-02
' t; ~( l9 u5 m/ B1 y0 t3 {# o
Essai aux rayons ultraviolets
- U* p a% J) }% u, K! k! L
des modules photovoltaïques (PV)
7 l; O1 L7 c5 f9 |( `1 g0 v3 x
UV test for photovoltaic (PV) modules
9 V$ i/ x& E0 ` l
Numéro de référence
3 `2 p9 k& J; L! [" J
Reference number
. E3 m1 k; i" o- t& y
CEI/IEC 61345:1998
+ v* O0 J' y$ j5 b# C
Numéros des publications
6 ~( o' A* u( w# z, @1 n) X2 x+ v
Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI
9 N9 Y3 w+ v% ?6 J' e2 m
sont numérotées à partir de 60000.
) n- H$ J% [* C. {, Z u
Publications consolidées
5 u* o; t4 ]& g% p- f1 t) K
Les versions consolidées de certaines publications de
4 ^* o& K {, T+ P& E
la CEI incorporant les amendements sont disponibles.
0 o+ `& O" f2 x) y8 `& R Q
Par exemple, les numéros d’édition 1.0, 1.1 et 1.2
6 ]5 `; K7 r. Z6 v; w& J( I) h
indiquent respectivement la publication de base, la
( p5 ?" t3 C% R
publication de base incorporant l’amendement 1, et la
9 `$ V3 m; `3 e6 }; }. S4 h
publication de base incorporant les amendements 1
0 n- ^2 l- Q$ G; W* [+ [0 L- |
et 2.
# l6 D! e4 P: v- j" ? R F
Validité de la présente publication
% g4 f7 Z6 _( X7 \+ ?! n
Le contenu technique des publications de la CEI est
1 q( U) _8 s* i: \5 x& a h
constamment revu par la CEI afin qu'il reflète l'état
5 l5 K( W3 Z; X& O7 [4 h
actuel de la technique.
) l( Z& s: X6 V7 ?6 g7 g5 i
Des renseignements relatifs à la date de reconfirmation
. f8 A) n& c. U* o' M6 t
de la publication sont disponibles dans le Catalogue de
+ U$ f$ |6 P# h
la CEI.
0 ~7 |. m: h1 O4 K: b5 O( M3 @
Les renseignements relatifs à ces révisions, à l'établissement
9 H4 C$ h! _4 _3 W! R& d- h
des éditions révisées et aux amendements
3 }$ e6 D) G; j0 F
peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de la
. _) h/ H) _, U) u$ E& o; V
CEI et dans les documents ci-dessous:
4 U h, V% r- `6 g- ?
· Bulletin de la CEI
$ ?. s$ [6 M! m
· Annuaire de la CEI
+ v) o) A3 W l# M4 w
Accès en ligne*
" i% J$ J2 S0 A5 k% h
· Catalogue des publications de la CEI
0 `, C4 e* M7 C+ S
Publié annuellement et mis à jour régulièrement
7 r3 o% L" L0 J) z* z0 A
(Accès en ligne)*
$ l8 {# S/ ^" _* w( u$ i
Terminologie, symboles graphiques
t0 b9 Z8 t" Y
et littéraux
3 l: b- @5 c1 w6 j) ]7 U8 B
En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur
' H1 H! r! b1 F5 L5 n
se reportera à la CEI 60050: Vocabulaire Electrotechnique
5 u( z) Y+ B! S) P# l
International (VEI).
L6 z8 ]/ a5 n: e
Pour les symboles graphiques, les symboles littéraux et
* }9 [$ O5 t$ m) |' \3 Z
les signes d'usage général approuvés par la CEI, le
. @3 \ c7 g* B x4 ~& v
lecteur consultera la CEI 60027: Symboles littéraux à
6 }# i# f+ n3 {5 f+ |' l2 E: ~
utiliser en électrotechnique, la CEI 60417: Symboles
& u* f W* [% d) Y7 L' k% } b
graphiques utilisables sur le matériel. Index, relevé et
- w9 s+ m1 [- t2 S+ G+ p% n0 x# Q
compilation des feuilles individuelles, et la CEI 60617:
) X5 x1 T" X) u9 }5 ]
Symboles graphiques pour schémas.
& o) r' N' T \+ J4 |
Publications de la CEI établies par
( t( n9 |6 y) m' L+ R
le même comité d'études
* y1 N" }) e" o. \
L'attention du lecteur est attirée sur les listes figurant à
) r+ n* A9 e* O. @0 @
la fin de cette publication, qui énumèrent les
; j/ k! b1 d- N' A Q1 ~! J
publications de la CEI préparées par le comité d'études
4 J6 m9 O$ t4 M" r9 t" u8 _
qui a établi la présente publication.
$ A5 o& J& h5 G' o, T
* Voir adresse «site web» sur la page de titre.
. a* O5 x5 e+ s+ w+ [
Numbering
! n/ M) `2 h `
As from 1 January 1997 all IEC publications are issued
" b* E/ u3 x5 | N: x
with a designation in the 60000 series.
" [- P: a. Q, t5 z/ e. v. H& d
Consolidated publications
* X2 D* I& I7 V! O; r8 B) T
Consolidated versions of some IEC publications
+ l5 J) ?5 t5 w
including amendments are available. For example,
% Z7 _! }$ ]. Q) P0 u) R
edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to
8 F1 O+ p' D1 s1 h& T _ }9 m
the base publication, the base publication incorporating
) U3 P2 U) M" n) Z; ^9 D& o
amendment 1 and the base publication incorporating
; y3 f; e7 K0 u; D: O5 x
amendments 1 and 2.
6 P7 L; O3 b0 [
Validity of this publication
, H" U w8 ~: `' [; M
The technical content of IEC publications is kept under
0 ^/ G! Q" d; ^9 D4 ^) X" c2 g
constant review by the IEC, thus ensuring that the
% c5 j: I0 x6 p% m9 D7 Y
content reflects current technology.
1 R5 [' A1 c" C1 h
Information relating to the date of the reconfirmation of
7 [ S+ M8 a5 \' d
the publication is available in the IEC catalogue.
9 }2 \6 f+ X7 C4 i6 G6 r- ]
Information on the revision work, the issue of revised
' \# v" h: C! M( R& e7 `4 q" B0 A
editions and amendments may be obtained from
k0 [( Q0 B( f1 s3 T7 C
IEC National Committees and from the following
4 f% k, n, Y3 `8 q# K* w- k3 U
IEC sources:
% r, @) w' Z! R( F, s" A8 h# @
· IEC Bulletin
$ h: i9 _6 f# z# q! t. \
· IEC Yearbook
9 U. D1 i3 s7 h: c3 C5 R! Y
On-line access*
4 P- a0 O% _3 n9 N1 J4 B7 ~
· Catalogue of IEC publications
, Q( E% c/ Y8 T/ V* V
Published yearly with regular updates
1 l% |/ N8 l" Q" W8 l- Y
(On-line access)*
6 Z- Y- S+ I6 Y. k% c
Terminology, graphical and letter
' ~7 Y+ @# a, g6 O; A. s% d4 Y& }
symbols
. o1 e* q# C5 e- ?0 L4 _2 U: N
For general terminology, readers are referred to
O- A7 O B1 e4 W" N
IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary
9 ^) i% A/ H+ X& F
(IEV).
t* ]) `" d: K$ y9 k' f
For graphical symbols, and letter symbols and signs
" k& N; \; J' v- j$ l$ \ ^8 }
approved by the IEC for general use, readers are
0 f( p, H, f1 U x
referred to publications IEC 60027: Letter symbols to
! n6 s: H M$ x$ g0 \
be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical
# x' l2 s& N# q9 @3 h0 b1 g; G
symbols for use on equipment. Index, survey and
* o: n3 ?5 ~# _8 q# Q
compilation of the single sheets and IEC 60617:
1 f6 Y$ a7 |3 R( B
Graphical symbols for diagrams.
. Q$ N j, l/ `8 e d6 i% @
IEC publications prepared by the same
8 y: D! ^! ]( t9 U) l
technical committee
0 D% C( [, L4 {
The attention of readers is drawn to the end pages of
- O! ]" |8 p) \& f
this publication which list the IEC publications issued
& G0 {" A. }9 G" h5 t! J. e
by the technical committee which has prepared the
/ {2 y6 w7 y/ O4 h" J% x2 p' s. E
present publication.
_; F* c6 W7 g, v/ x
* See web site address on title page.
! ]4 p$ \# J9 L' G, Q2 q
NORME
9 ~+ R& j/ w& w8 O( t/ n
INTERNATIONALE
4 p" a8 x% ?0 p* m0 D9 I6 a
CEI
+ ]7 [2 K& l6 L- o6 a3 n
IEC
7 p7 G! x( ^4 ?
INTERNATIONAL
( Z. n* C; x7 ?9 t5 c
STANDARD
# ^3 h4 M3 Q8 m: n: s' P
61345
; E, u. {2 O; y! @) K4 }
Première édition
4 ]+ ]) ~' [7 f7 i. F4 f$ G, z9 O
First edition
8 X7 h7 E+ l: G* s3 f1 {
1998-02
. _+ O7 X% o! h
Essai aux rayons ultraviolets
' J$ x3 N7 o1 a
des modules photovoltaïques (PV)
) L5 | @6 r" s, i* _8 z# W$ m
UV test for photovoltaic (PV) modules
1 l7 N9 }0 P) i3 b. y0 i
Commission Electrotechnique Internationale
5 Z% B2 l8 v3 c
International Electrotechnical Commission
$ ]- D0 T2 m$ ?- b
Pour prix, voir catalogue en vigueur
: l/ M- K3 N' U: O& a3 g" c7 C
For price, see current catalogue
$ B. d. H2 z3 Y8 ?/ @5 ~% W
Ó IEC 1998 Droits de reproduction réservés ¾ Copyright - all rights reserved
% Y1 H, R7 z# q3 a, c# E
Aucune partie de cette publication ne peut être reproduite ni
6 |* e/ P: L7 G4 b- R
utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun
! ~' g- Q, y1 R3 _* B, [
procédé, électronique ou mécanique, y compris la photocopie
6 M9 O. N& u, Y6 q) F% E- H5 _
et les microfilms, sans l'accord écrit de l'éditeur.
7 o( J8 Q: l: k# s, K
No part of this publication may be reproduced or utilized in
( B+ ^# @' g$ ]( }
any form or by any means, electronic or mechanical,
0 {( Z( l0 o0 w$ K9 b
including photocopying and microfilm, without permission in
5 t5 q0 ]- t- z) v) Q( C
writing from the publisher.
( K! F: b+ |# ?
International Electrotechnical Commission 3, rue de Varembé Geneva, Switzerland
- W" [+ g, `7 |8 I) x" A
Telefax: +41 22 919 0300 e-mail:
inmail@iec.ch
IEC web site http: //www.iec.ch
4 a; [. t: E/ S% O% [% e
CODE PRIX
2 M) Z) [% F% S
PRICE CODE F
2 ~$ x& |" F; V3 c. G
– 2 – 61345 © CEI:1998
3 y% h. w/ Y; i7 j
COMMISSION ÉLECTROTECHNIQUE INTERNATONALE
6 p2 L6 |" [( e8 \9 ^+ b
___________
0 y* z5 x1 B7 E1 _8 V' q. J
ESSAI AUX RAYONS ULTRAVIOLETS DES MODULES
5 j r m! F, t- A- t7 q4 @
PHOTOVOLTAÏQUES (PV)
- x; M3 Y# n" h$ `
AVANT-PROPOS
3 I2 l1 \4 H+ z9 b
1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composée
- W5 P# h2 e+ p- ^) }
de l'ensemble des comités électrotechniques nationaux (Comités nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de
F6 |- r( l5 H3 Z9 Z
favoriser la coopération internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de
' W9 l. s" h4 |
l'électricité et de l'électronique. A cet effet, la CEI, entre autres activités, publie des Normes Internationales.
% [0 J& t, l. V# |# m* \ n1 g ^
Leur élaboration est confiée à des comités d'études, aux travaux desquels tout Comité national intéressé par le
5 q' e3 c7 ~1 o& e2 k
sujet traité peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en
( ~( s- \: _ w M2 x$ [5 ?
liaison avec la CEI, participent également aux travaux. La CEI collabore étroitement avec l'Organisation
( t* |. m& k$ `2 f- c4 E m0 Y5 B4 Z/ W+ J
Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixées par accord entre les deux organisations.
- R0 d" f1 w: f" P4 {9 \8 y
2) Les décisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques, représentent, dans la mesure
$ { h. O. b6 M7 j; R0 V U
du possible un accord international sur les sujets étudiés, étant donné que les Comités nationaux intéressés
) `; a( X. o T) n8 C8 q4 u
sont représentés dans chaque comité d’études.
7 ^ W- [4 z1 {. {& v* H& e
3) Les documents produits se présentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publiés
1 O% `# d9 E8 a0 o/ ?, m6 ^4 K3 t. ]
comme normes, rapports techniques ou guides et agréés comme tels par les Comités nationaux.
5 n- O" p1 a- t0 D
4) Dans le but d'encourager l'unification internationale, les Comités nationaux de la CEI s'engagent à appliquer de
' V6 L) s( d% E5 H) _/ i0 b, P
façon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CEI dans leurs normes
) J$ K8 `% F! S3 \
nationales et régionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou régionale
" V, `! d$ O- p9 j1 e
correspondante doit être indiquée en termes clairs dans cette dernière.
/ k" ^% w4 G- H/ m, v
5) La CEI n’a fixé aucune procédure concernant le marquage comme indication d’approbation et sa responsabilité
7 V! u1 k+ }3 u9 S9 m
n’est pas engagée quand un matériel est déclaré conforme à l’une de ses normes.
- w$ W5 J! u. X
6) L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments de la présente Norme internationale peuvent faire
- n- I: L. f! b5 D/ F+ ]
l’objet de droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait être tenue pour
3 I8 f9 R* T6 A: i6 B
responsable de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et de ne pas avoir signalé leur existence.
" H @5 o+ z/ ^+ s( |# G4 v
La Norme internationale CEI 61345 a été établie par le comité d'études 82 de la CEI: Systèmes
4 S0 R$ `' c5 f+ e
de conversion photovoltaïque de l'énergie solaire.
$ r; {; O3 q+ [. v
Le texte de cette norme est issu des documents suivants:
" o0 i! A1 W5 w) T) L; E$ L
FDIS Rapport de vote
T& \+ c5 J! E9 z4 R! K y
82/187/FDIS 82/194/RVD
9 f* O8 Y, Q5 g# T( t0 R N
Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant
- X/ Q6 X& l# K
abouti à l’approbation de cette norme.
7 {% I/ K6 H) N2 B% H* y7 ?& ]
L’annexe A est donnée uniquement à titre d’information.
6 e7 z# Q) X. F& X
61345 © IEC:1998 – 3 –
' l. C# M% {: W& {8 ?1 {$ \, s
INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION
R9 {$ f9 l+ ]9 V6 N" u0 B
___________
; Y+ b* }: A0 Q) t& l& i `
UV TEST FOR PHOTOVOLTAIC (PV) MODULES
5 ]5 ]8 d+ X' ~7 q( z2 b
FOREWORD
, r2 r% M- ^: h4 G" `/ y8 Q( ?
1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising
( G$ [; S: A- r
all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote
& w; v; N" T) b1 I
international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To
* ~5 T# a+ @2 n% \; P" o
this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is
: A$ d# G$ H" L8 j5 y* n
entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may
6 D$ p3 s l4 n. J( h3 ?9 W
participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising
7 d4 C- Z0 o& ^
with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization
6 z1 A7 \( E! }! N
for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two
: A/ f1 A) ]: F4 h8 s- Y
organizations.
$ X" ~1 Y9 l" y$ m! }
2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, an
/ o& x- s& _: N
international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation
# A! v0 N4 d9 o$ s, Q3 \- l* D4 c
from all interested National Committees.
2 w% C9 Z4 u6 B( T
3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form
4 w& f! P) e% B
of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense.
# B2 u0 l0 I- f) k/ A( U( c
4) In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International
: @& o2 b. ^3 Y. n
Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any
6 y7 d5 \1 M+ o1 `: T
divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly
# q2 l2 Z, u+ j, \% c+ p0 R
indicated in the latter.
% [6 w, F/ {" C
5) The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any
9 F. r" r; {5 [% ^
equipment declared to be in conformity with one of its standards.
: b7 }$ y2 f4 y; V9 `( t
6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject
' U9 }5 R8 ~& h. ^ ]+ K4 a& v
of patent rights. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.
6 }$ w5 c+ a* }! f+ s+ G4 O
International Standard IEC 61345 has been prepared by IEC technical committee 82: Solar
. J- n- T1 k# J! F! z
photovoltaic energy systems.
1 E! c6 W0 ?/ u, H! r
The text of this standard is based on the following documents:
% M! f; r$ z: t( j# T
FDIS Report on voting
9 R- [ k7 Z# p: g
82/187/FDIS 82/194/RVD
* Y2 `! J" |. `: _% H
Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on
# m( I# g8 c/ @6 H7 t# o+ U8 Q) O
voting indicated in the above table.
/ M7 |7 c; o3 S4 Z, j
Annex A is given for information only.
' w1 Z# c$ o8 p4 w
– 4 – 61345 © CEI:1998
0 V9 ], J5 v6 D+ p& t" [9 f
ESSAI AUX RAYONS ULTRAVIOLETS DES MODULES
$ c; x5 Q$ G( @8 b
PHOTOVOLTAÏQUES (PV)
2 R! i n, I6 }; ?* X4 d( e& s% D
1 Domaine d'application et objet
! l% q, V6 z D7 p* S
La présente Norme internationale définit un essai qui détermine la résistance du module à
5 Q4 i- Z L; X& R3 w: E! B' G+ K
l'exposition aux rayonnements ultraviolets (UV). Cet essai est utile pour évaluer la résistance
O; ~9 b, U4 }& e1 m" @# A
aux rayonnements UV des matériaux tels que les polymères et les revêtements de protection.
' K. N0 y! c$ l, R' p$ u. q3 _& B
Le présent essai a pour but de déterminer l'aptitude du module à supporter l'exposition aux
0 b3 R' r9 a( v' o
rayonnements ultraviolets (UV) de 280 nm à 400 nm. Avant de mener cet essai, il convient que
* q& I/ D z7 ~, {! h# c& Q
l'exposition prolongée au rayonnement lumineux, ou autre préconditionnement, soit effectuée
" D3 b" \4 z% j1 U0 F
selon la CEI 61215 ou la CEI 61646.
4 D9 M8 U/ x8 m+ b1 P7 X, X8 g6 u! u
2 Références normatives
% D0 d* `3 y& I. ~2 P1 p7 M/ S
Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par suite de la référence
% {4 [4 {+ S# h
qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la présente Norme internationale. Au
' c* G3 B0 i7 v; _* m
moment de la publication, les éditions indiquées étaient en vigueur. Tout document normatif
0 I" a5 y1 l" ]( ]4 N
est sujet à révision et les parties prenantes aux accords fondés sur la présente Norme
0 r9 R! U) Z" Y
internationale sont invitées à rechercher la possibilité d'appliquer les éditions les plus récentes
, N. Q& ?* ^: z2 G
des documents normatifs indiqués ci-après. Les membres de la CEI et de l'ISO possèdent le
8 q0 J2 K# m. p6 _# Z6 n
registre des Normes internationales en vigueur.
$ }" K9 S/ @* ]
CEI 60904-1:1987, Dispositifs photovoltaïques – Première partie: Mesure des caractéristiques
8 f4 z" D L; W1 {
courant-tension des dispositifs photovoltaïques
, T- l3 N! P& \% x0 `' {
CEI 60904-3:1989, Dispositifs photovoltaïques – Troisième partie: Principes de mesure
4 n4 \+ l- T5 h3 M5 U
des dispositifs solaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre incluant les données de
5 N K" C9 U. k% J
l'éclairement spectral de référence
4 r$ B; A) h7 e9 L& ^
CEI 61215:1993, Modules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin pour application terrestre –
: I# D: m. M6 c W2 H( k/ H
Qualification de la conception et homologation
{/ F; s: W4 T, ~5 r
CEI 61646:1996, Modules photovoltaïques (PV) en couches minces pour application terrestre –
$ `1 H% `" I5 p+ j+ n
Qualification de la conception et homologation de type
! D7 p$ E0 n6 v9 L
3 Mesures initiales
+ H9 j5 F& u1 R, F$ g5 r9 P" C
Les mesures initiales suivantes doivent être effectuées:
4 p1 M( e7 e2 T! t7 T+ s' o2 @
– examen visuel suivant la CEI 61215 ou CEI 61646;
9 `8 Z* m3 O3 d) l. Q( B. S
– caractéristiques I-V dans les conditions normales d'essai (STC) suivant la CEI 60904-1;
: g7 O$ O0 a$ r( E* J4 D" e. Y v- }
– essai d'isolement suivant la CEI 61215 ou CEI 61646.
# Q& k* v( w" T7 \9 J2 p
61345 © IEC:1998 – 5 –
, L. E4 j1 G# H9 j( C R( z5 D7 _* o' ?
UV TEST FOR PHOTOVOLTAIC (PV) MODULES
4 `* c) i0 L4 N
1 Scope and object
7 B$ d: r4 X: n3 |
This International Standard defines a test which determines the resistance of the module when
; {# ]0 c' h: c5 v, y# z4 Z' d
exposed to ultra-violet (UV) radiation. This test is useful for evaluating the UV resistance of
! E4 F/ i* s8 X% p
materials such as polymers and protective coatings.
' _$ [9 d" B. J( o7 x
The object of this test is to determine the ability of the module to withstand exposure to ultraviolet
" q& L5 |& ~% l! ^. y- v
(UV) radiation from 280 nm to 400 nm. Before conducting this test, light soaking or other
5 C; q* h g- r. J, j6 `$ b# L
pre-conditioning should be performed in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.
* q }8 v; ~* h' u+ n, v
2 Normative references
! C( p3 d+ S# k1 W
The following normative documents contain provisions which, through reference in this text,
1 z) S# K9 y* k5 W+ `/ I+ `* l
constitute provisions of this International Standard. At the time of publication, the editions
4 U8 @& ~( j' Z$ _0 {' \
indicated were valid. All normative documents are subject to revision, and parties to
8 X: P* i" u: K, D7 a" D3 J
agreements based on this International Standard are encouraged to investigate the possibility
% Q& y% p! k8 M/ {. O! J4 t
of applying the most recent editions of the normative documents indicated below. Members of
' s! G I J* ~, ~; J) I$ o ~' b1 H
IEC and ISO maintain registers of currently valid International Standards.
; \& [3 w5 X. n/ ~. s0 c
IEC 60904-1:1987, Photovoltaic devices – Part 1: Measurements of photovoltaic currentvoltage
H' E! _9 _ ?
characteristics
; G, c: `, {7 S+ C- g) k9 `
IEC 60904-3:1989, Photovoltaic devices – Part 3: Measurement principles for terrestrial
) ^7 t6 t& O4 {- R7 ~
photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data
) r! U/ j" ?# [8 [$ h. o9 }
IEC 61215:1993, Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification
% a' w! m$ s' k# T1 U
and type approval
4 k3 \, Z. t% D" a$ ^
IEC 61646:1996, Thin-film terrestrial photovoltaic (PV) modules – Design qualification and type
# X, \! \# j7 Q+ u9 m* D: v& v
approval
7 O+ q/ d: ~6 {9 ^6 b2 A6 J
3 Initial measurements
2 Z$ `: s) k" o
The following initial measurements shall be carried out:
- U6 _5 {. s5 Z9 G
– visual inspection in accordance with IEC 61215 or IEC 61646;
3 p& |! b2 Z, X$ D, e
– I-V characteristics at standard test conditions (STC) in accordance with IEC 60904-1;
/ [; B, ~0 r' R2 C- b
– insulation test in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.
, e/ r7 V2 D, a+ U/ U. D
– 6 – 61345 © CEI:1998
7 P- Z; p% N1 t2 p# c$ J9 {- J* N
4 Equipement
0 f3 I4 A- Z' @6 }4 v& `0 _
L’équipement comprend les éléments mentionnés ci-dessous.
+ Q( m% i+ r) L) U/ W9 C
a) Une étuve d'essai ou une autre forme d'installation régulée en température avec une
6 P6 B4 i" t6 H8 |( a# l: _4 |, E
fenêtre ou des installations pour source de rayonnement lumineux UV et le ou les modules
$ m s+ S2 A% ~; W6 C3 \
en essai. L'étuve doit être capable de maintenir la température du ou des modules à 60 °C
6 l9 e* e, l2 Z, [1 ~% J
± 5 °C et en chaleur sèche.
1 K* a! ^, d3 e5 Z/ i" k% P
b) Une source de rayonnement lumineux UV capable de produire des rayonnements UV avec
8 Q# u% Z' V" _! U3 b/ `
une uniformité d'éclairement de ±15 % au-dessus du plan d'essai du ou des modules et
1 u* |& \8 g- [" `. k# M# V
capable de fournir l'éclairement total nécessaire dans les différentes régions spectrales
# E" k( [5 S/ g: o+ }
intéressantes comme défini au point c) de l'article 5. Le rapport d'essai final doit indiquer
+ z% r0 h1 v; j# T! J
quelle source de rayonnement lumineux UV est utilisée.
$ H/ B$ W1 H5 o; O& w5 B
c) Des moyens pour mesurer et enregistrer la température du ou des modules avec une
. j$ h% Z, H: F1 @( C
précision de ±2 °C. Les capteurs thermiques doivent être fixés sur la face avant ou arrière
4 e% ^1 o% _) m* `" c
du module et proches de son milieu. Si plusieurs modules sont en essai simultanément, le
/ [2 E" k; _8 N# s# o; r* D' u
contrôle de la température d'un échantillon représentatif sera suffisant.
/ T' h |/ u; t6 X
d) Un radiomètre étalonné capable de mesurer l'éclairement du rayonnement lumineux UV
. ^* L' W( _4 Z4 E% k( E
produit par une source de rayonnement lumineux UV au plan d'essai du ou des modules.
. [1 U5 b2 Q' S7 I5 Z. m; _5 M
Voir l'annexe A pour les sources de rayonnement lumineux UV suggérées.
$ y0 T) p7 x- o8 w( l G
5 Méthode
7 ]: n& A" `/ _5 d; g0 V1 j
L’essai doit être réalisé selon la procédure décrite ci-dessous.
' r+ i @. x' r) N+ L# G( O/ Z' G
a) En utilisant un radiomètre étalonné, mesurer l'éclairement au plan d'essai proposé du
0 L. Q+ m( }: X3 [0 D* l0 E7 G# U! a; H
module et s'assurer qu'aux longueurs d'onde entre 280 nm et 400 nm, l'éclairement
/ ^7 M# O) w6 V' a' F+ q
spectral d'essai ne dépasse jamais cinq fois l'éclairement de référence correspondant,
+ [. I) R6 j4 S5 j
spécifié par la distribution de l'éclairement solaire normalisée de AM 1,5 donnée au
% Q7 [" u) G9 ~! @, ?' k
tableau 1 de la CEI 60904-3, qu'il n'y a pas d'éclairement appréciable aux longueurs d'onde
1 Q" L9 h: L$ L7 O; n& b) `, ] g
au-dessous de 280 nm et qu'il y a une uniformité de ±15 % au-dessus du plan d'essai.
+ u$ t8 S6 j- |- d) c8 K' C
b) Installer le module dans le plan d'essai à l'endroit choisi dans a) avec le côté avant
( g9 N6 u- m, q% h) X
perpendiculaire au faisceau d'éclairement UV.
6 R" `- y" ^* ]# z* n& M% U1 m) y
c) Tout en maintenant la température du module dans les limites de la gamme prescrite,
7 {5 H$ q1 j( U+ P0 O: E, d2 G
soumettre le ou les modules à un minimum d'éclairement de
$ V: K" z6 F0 j. q6 g
– 7,5 kWh×m–2 dans la gamme de longueurs d'onde entre 280 nm et 320 nm et
* A$ q& v1 l8 h% t
– 15 kWh×m–2 dans la gamme de longueurs d'onde entre 320 nm et 400 nm.
5 }+ p9 u+ Z$ g1 j! E5 j r0 \
d) Réorienter le module de telle façon que le côté arrière soit perpendiculaire au faisceau
. [! E- G1 F1 _) j
d'éclairement UV.
9 w8 r1 {% i; W5 `) r
e) Répéter l'étape c) pour 10 % du temps aux mêmes niveaux d'exposition énergétique que
; c& E" ~% t3 L1 b
ceux effectués sur le côté avant.
# ?2 n U# ^ }( v
6 Mesures finales
7 h4 T- @2 Q; f% M4 c; `
Répéter les essais suivants:
3 N" n8 j6 T7 H8 }1 [2 I( w$ Z
– examen visuel suivant la CEI 61215 ou la CEI 61646;
1 A) [ K' y0 u" K- p% Y7 A
– caractéristiques I-V dans les conditions normales d'essai (STC) suivant la CEI 60904-1;
( I d( O9 M: Y% A/ `1 s- h. s1 y0 u
– essai d'isolement suivant la CEI 61215 ou la CEI 61646.
6 o Y1 |7 Q& _ ~' z: R
61345 © IEC:1998 – 7 –
- m: i4 Q# c# c) ]6 S$ P" {
4 Apparatus
4 g9 v) M! k2 F; c# Y# t+ R
The apparatus consists of the items listed below.
- h4 R# S! {+ M6 C" P5 O6 G
a) A temperature controlled test chamber or other arrangement with a window or fixtures for a
5 j% _3 _3 {) J& G7 n O. ^. w2 }' E5 j
UV light source and the module(s) under test. The chamber shall be capable of maintaining
: S Z4 {( o9 y z! r4 D
the module temperature at 60 °C ± 5 °C and a dry condition.
& e% n! ?% y, n; L4 c" _/ j1 Y
b) A UV light source capable of producing UV radiation with an irradiance uniformity of ±15 %
3 `% t" T, @ `+ d3 D
over the test plane of the module(s) and capable of providing the necessary total irradiance
" h3 c! S7 L/ [5 L( a
in the different spectral regions of interest as defined in clause 5 c). The final test report
' {1 B0 j# S1 ]2 k
shall indicate which UV light source is used.
V& X7 |% _8 q+ k: {$ R+ f) v/ ~9 V0 I
c) Means for measuring and recording the temperature of the module(s) to an accuracy of
# l+ P9 R& ~+ ~: c# o# u+ M
±2 °C. The temperature sensors shall be attached to the front or back surface of the
% g; y3 o# _0 O) o( [
module near the middle. If more than one module is tested simultaneously, it will suffice to
; ?9 n: ?1 q- Y/ i4 D! [+ F) m& M
monitor the temperature of one representative sample.
5 H& Y+ R6 L; z1 \5 m6 f2 c9 g
d) A calibrated radiometer capable of measuring the irradiance of the UV light produced by the
7 D* J! Y, p; G! X+ Q& _. H6 \
UV light source at the test plane of the module(s).
3 v* T( u* [5 f, k2 }
See annex A for suggested UV light sources.
D+ ?1 I+ U* k9 i, y/ i
5 Procedure
- M: K A7 {6 B' ?6 X6 m# h
The test shall be carried out according to the procedure outlined below.
) k0 U" x( p; ~' a. j" A+ o
a) Use the calibrated radiometer to measure the irradiance at the proposed module test plane
) k: {) r. \8 }4 W
and ensure that, at wavelengths between 280 nm and 400 nm, the test spectral irradiance
+ Z0 W* p8 }& c# L/ h3 t) Z
is never more than 5 times the corresponding standard spectral irradiance specified in the
5 f R4 p( A: A: C( N7 f
standard AM 1,5 solar irradiance distribution given by table 1 of IEC 60904-3, that there is
4 _8 l) Y0 e+ P3 R! X
no appreciable irradiance at wavelengths below 280 nm and that it has a uniformity of
: x& L, R+ p9 ~ I
±15 % over the test plane.
l, z! u3 f0 `" Y0 Y7 \
b) Mount the module in the test plane at the location selected in a) with the front side normal
: b* S% P* ]1 Q3 H! O
to the UV irradiance beam.
/ v2 V& Y3 @! Z. `& F' E$ e
c) While maintaining the module temperature within the prescribed range, subject the
+ z& g4 D. q) r! H' { y
module(s) to a minimum irradiance of
1 A! F3 v) `1 C
– 7,5 kWh×m–2 in the wavelength range between 280 nm and 320 nm, and
6 c2 D; Q+ K, E" d! Q" x+ t
– 15 kWh×m–2 in the wavelength range between 320 nm and 400 nm.
3 g5 W; L+ ]. a9 T$ x) c( t" t% q J% A
d) Reorient the module so that the back side is normal to the UV irradiance beam.
# x, B2 x' Q7 e5 ?( Q+ s' J3 P; b/ } U
e) Repeat step c) for 10 % of the time at the irradiation levels that were performed on the front
! g) _2 D2 b$ c% J6 R# u+ W& s, J
side.
8 I6 E% e$ l: ^; f+ v
6 Final measurements
7 N* Z: g J( I# E$ z) K, r0 A A
Repeat the following tests:
( F% k# n1 N9 b8 m6 s! T6 {# h
– visual inspection in accordance with IEC 61215 or IEC 61646;
. }- Y8 t7 f7 U1 ]. [6 a7 J/ O8 D
– I-V characteristics at STC in accordance with IEC 60904-1;
7 U+ o& b: ^: A
– insulation test in accordance with IEC 61215 or IEC 61646.
- S1 D3 }8 |' u4 B/ W+ g% V
– 8 – 61345 © CEI:1998
4 v! F4 T( {# N3 h
7 Exigences
7 m2 t+ w4 T7 G: J, X
Les modules photovoltaïques testés doivent satisfaire aux exigences indiquées ci-dessous.
" a( F- }+ X S# J% S
– Pas de défauts visuels majeurs, comme défini dans la CEI 61215 ou la CEI 61646.
9 n6 ?/ v& c7 t2 g1 o
– La dégradation de la puissance maximale de sortie dans les conditions normales d'essai
) u1 t" d7 k5 _( g# }. l4 s/ t" \
(STC) ne doit pas dépasser 5 % de la valeur mesurée avant l'essai. Pour les modules à
6 G! P4 k, R, u, E! z/ u9 [( [
couches minces, la puissance de sortie maximale dans les conditions normales d'essai doit
0 \3 Q) {1 U# w5 e- a
dépasser la puissance assignée minimale spécifiée par le fabricant pour ce type de
# B. A! ], U4 x# e5 y0 I5 v. _
module.
. c! c, M! _1 t5 t
– La résistance d'isolement doit satisfaire aux mêmes exigences que celles des mesures
( X4 {4 _! L5 k* v5 [0 Y1 S
initiales, comme défini dans la CEI 61215 ou la CEI 61646.
( [0 `/ ^: t; K' F% U( |* y
61345 © IEC:1998 – 9 –
" d; ~/ W1 K0 G0 E: z- n
7 Requirements
p9 F4 J. L2 m0 N- L
The photovoltaic modules tested shall fulfill the requirements stated below.
7 }2 D9 \" z/ _ n' g
– No evidence of major visual defects, as defined in IEC 61215 or IEC 61646.
1 X! w# i( [' p0 W2 p6 \
– The degradation of maximum power output at STC shall not exceed 5 % of the value
2 h; W- e8 z. b
measured before the test. For thin-film modules, the maximum output power at STC shall
7 b( Q# {1 H: h0 r& }: c
exceed the manufacturer’s minimum power rating for this module type.
% [5 K# u1 M+ }. z
– Insulation resistance shall meet the same requirements as for the initial measurements, as
$ Q b" ^1 O' ~# i+ W) ]
defined in IEC 61215 or IEC 61646.
: O7 J, j" s/ Z) a6 t
– 10 – 61345 © CEI:1998
2 Q$ G# J' B" \/ ]4 a
Annexe A
' A7 [% b) \! a% j
(informative)
7 g. B: L( v1 _4 r, M0 p
Sources de rayonnement lumineux UV suggérées
; j" C& O: J5 u6 ?. J! ~3 v
Le choix d'une source de rayonnement lumineux UV est basé sur son aptitude à satisfaire les
1 P7 {6 g" ]* ~5 l* q9 z* G
exigences spectrales de la présente norme. Les sources de rayonnement lumineux UV
9 Z2 R3 j% E( Y; F
suivantes peuvent être capables de satisfaire ces exigences, lorsqu'elles sont correctement
$ N2 a. T6 @$ O
installées et/ou posées.
: ]7 F, r8 j; Z* o* s
A.1 Lampes fluorescentes UV QUV-A et QUV-B ou similaires
4 K5 k% r4 E$ U9 B8 T
Les lampes QUV-B ont une gamme spectrale de 280 nm à 315 nm. Le seul inconvénient de
* X* H! k4 [& W
cette source lumineuse réside dans le fait que presque tout l'éclairement sera à la limite haute
) ]" T% ] a' A
énergie de la gamme d'éclairement spécifiée. Une combinaison des lampes fluorescentes
4 @" y. m* P5 [. N7 B
QUV-B et QUV-A peut être utilisée pour fournir l'exposition énergétique requise dans les
( k: ~' F7 H3 r9 a, P( O2 k' q1 N
gammes spécifiées.
! r* L+ T( \& _2 H' v
A.2 Xénon filtré
" v. I+ }% t% l/ T
L'éclairement spectral d'une lampe au xénon filtré dans la gamme UV visible ressemble
2 s# L% D0 v1 l
beaucoup au spectre de l'éclairage solaire naturel, en particulier dans les longueurs d'onde de
# z0 L B! C P D
280 nm à 320 nm. Etant donné que le xénon reproduit tout le spectre solaire, il a plus d'énergie
+ P1 Z" z: _+ t
dans la gamme de longueurs d'onde de 320 nm à 400 nm que l'essai ne le spécifie. Pour
0 i2 z% @2 G! z+ l
atteindre une exposition énergétique totale de 7,5 kWh×m–2 entre 280 nm et 320 nm avec une
' B7 o3 h( W4 i' j
source au xénon, l'échantillon peut être exposé considérablement plus que les 15 kWh×m–2
/ I/ T& t0 t9 W: Z# [
d'exposition énergétique totale spécifiée pour la gamme de longueurs d'onde entre 280 nm et
- a1 E& C- d/ ^, c
400 nm.
$ d* g" z/ `; A9 k
A.3 Lampe UV aux halogénures métalliques à haute pression
+ o3 O8 [1 U5 L: D( z6 ?( W
Ce sont des lampes à décharge au mercure à haute pression avec des additifs aux
9 t: u4 {' S+ _
halogénures métalliques qui rayonnent principalement en UVA et UVB. Le verre de silice
" Z; N3 ~6 A6 P) R9 p3 Z8 H
spécial doit être utilisé pour absorber le rayonnement UVC. Cela est aussi important pour
% j, p w% t3 o8 `
éviter la production d'ozone.
' m) G d' `; c, e1 t
A.4 Eclairage solaire naturel
+ b/ j9 m+ N% T7 |5 j2 |3 R j; y6 X' Y
L'éclairage solaire naturel peut être utilisé avec concentration. Comme avec la source au
" u1 b. q4 z6 i. K* c: W4 ]) c4 B- N
xénon, pour atteindre une exposition énergétique totale de 7,5 kWh×m–2 entre 280 nm et
! B6 Z' |) I2 N( d( D- z& Q9 ?
320 nm, l'échantillon peut être exposé considérablement plus que les 15 kWh×m–2 d'exposition
% B( m8 i) U! y8 Y
énergétique totale spécifiée pour la gamme de longueurs d'onde de 280 nm à 400 nm.
0 Z2 x- H# M- B2 A+ H0 O
___________
: z: ] }( w7 h2 H: o0 n: }% q2 q
61345 © IEC:1998 – 11 –
F% p. I, f, T1 ~( F n9 H1 v ?
Annex A
5 e* C; z/ n' b* d; O. Z
(informative)
\+ p; t1 y7 y N- y$ y1 y
Suggested UV light sources
5 t$ i( v, x4 u
Selection of a UV light source is based on its ability to meet the spectral requirements of this
, m. v' v# o+ u( s1 A7 u W$ g
standard. The following UV light sources can be able to meet these requirements when
6 `& r; S# Y$ D8 g7 H( r
properly mounted and/or filtered.
4 [( s% O1 R* t" Q. O. \
A.1 QUV-A and QUV-B fluorescent UV lamps, or similar
8 c9 d' V! T; \) ] \+ _
QUV-B lamps have a spectral range from 280 nm to 315 nm. The only drawback with this light
' i( g. ?, P& |' Y/ W2 u5 y
source is the fact that almost all of the irradiance will be at the high energy end of the specified
4 |0 h& n5 U1 O" g
irradiance range. A combination of QUV-B and QUV-A fluorescent lamps may be used to
, k3 c9 U' L0 f6 ^9 F
provide the required irradiation in the specified ranges.
) p$ z, I8 S( E' o" Y. c; \$ y
A.2 Filtered xenon
1 r! b% |% ?1 F, M& [* L o2 u
The spectral irradiance of a filtered xenon lamp in the UV-visible range most closely resembles
1 V6 z0 N& k6 Q: v, x& H
the spectrum of natural sunlight, especially in the wavelengths from 280 nm to 320 nm.
) d' t8 `3 K' P
Because xenon reproduces all of the solar spectrum, it has more energy in the wavelength
/ r& o, K0 u+ _4 |6 P
bracket ranging from 320 nm to 400 nm than the test specifies. To achieve a total irradiation of
7 O1 F. G# j* I* Z. |6 ?/ d1 F( @
7,5 kWh×m–2 between 280 nm and 320 nm with a xenon source, the sample may be exposed to
s# c6 W3 b* r6 e# g. {
considerably more than the 15 kWh×m–2 of total irradiation specified for the wavelength range
9 n5 R8 L; S" i; {
between 280 nm and 400 nm.
/ r& J! F6 ^1 j- j7 U; \
A.3 UV-high pressure metal halide lamp
. j4 K; K+ P8 H* v9 `; H
These are high pressure mercury discharge lamps with metal halide additives which radiate
- E9 h! C6 [% z' l1 j
mainly UVA and UVB. Special quartz glass shall be used to absorb the UVC radiation. This is
; X- S) {# W9 S* K& `4 t- M
also important in order to avoid the production of ozone.
& @2 b) b! ~* n/ D! `. C
A.4 Natural sunlight
. B: x; o$ ]; e( E( p( @' T
Natural sunlight can be utilized with concentration. As with the xenon source, in order to
& o( D. X8 t1 g! r
achieve a total irradiation of 7,5 kWh×m–2 between 280 nm and 320 nm, the sample may be
; N! X; K2 n. Q2 _' I, I5 d6 l
exposed to considerably more than the 15 kWh×m–2 of total irradiation specified for the
6 H# L! d+ n) H* D, f, C
wavelength range between 280 nm and 400 nm.
I' f8 H8 B( P1 C( ?, C
___________
* v6 N$ m, |/ u( ^& n3 I. L
Standards Survey
& n, O+ @* d+ M# L6 M/ w% A
We at the IEC want to know how our standards are used once they are published.
; s8 q! b2 b1 T+ S) x8 `3 h1 u
The answers to this survey will help us to improve IEC standards and standard related
* r9 i0 e, u. I1 G* a$ a
information to meet your future needs
: @ H. Q- H, Z( A6 A. C
Would you please take a minute to answer the survey on the other side and mail or fax to:
' y/ z' l) n/ [1 G% J
Customer Service Centre (CSC)
* D# B9 p) h4 A U
International Electrotechnical Commission
! M' A. i( G5 H* S X |4 a6 T
3, rue de Varembé
# X3 r* @4 u$ d7 P9 Y6 b# O
Case postale 131
$ k: l0 L, K& H" b* q- X& b) H
1211 Geneva 20
5 t$ F, o: N% k) x' j! R. C
Switzerland
7 p( j! n! s8 _( @9 l( ?2 j
or
( R H# H8 H; z
Fax to: CSC at +41 22 919 03 00
" R$ Q2 q) r# U4 g
Thank you for your contribution to the standards making process.
5 Z. B* I! ~& X" l" a
Non affrancare
0 [3 z# y' t4 y: |; S' T
No stamp required
" O& R4 e$ j9 r
Nicht frankieren
4 f2 D! r4 K8 q. W" l& P5 Y- Q. E
Ne pas affranchir
5 |/ c% @* `8 H4 X/ r8 A, Q
A Prioritaire
* o+ g8 p* \$ j" ?+ a* R
RÉ
ONSE PAYÉE
# h8 X k1 }% o {" A" n
SUISSE
* r* \' x# D+ D7 G6 v: q4 S- [" Y
Customer Service Centre (CSC)
0 o' L5 ~0 D; Q* k* E- h
International Electrotechnical Commission
. }" g* r+ l- _5 [9 U/ k6 U* k. M& O
3, rue de Varembé
8 k4 t+ E0 Q7 p+ X. ]- E. x
Case postale 131
7 c8 V; b: l" W3 W5 j) d
1211 GENEVA 20
V( z' P5 f1 @3 _; e) o
Switzerland
1 f1 X9 E% N& G+ Z3 r
1.
) \- L$ Q1 B: h5 o l% v# w& Q
No. of IEC standard:
) H/ }) N! k3 k/ h
.......................................................
# A7 ^4 _( Q4 B2 h4 e5 c8 F
2.
2 l6 i6 `6 k& s4 T
Tell us why you have the standard.
' L! c) Z% Q+ }
(check as many as apply). I am:
) B* N& V! s$ B& @
the buyer
8 ?$ m/ W" c0 z
the user
9 [' _# V# L4 r2 N) M
a librarian
) O4 n( M2 V/ v8 ?" O
a researcher
2 K: n5 C2 H9 r$ e; Z! _) ~
an engineer
- n4 s' W2 W5 F6 J k( G( N; B
a safety expert
# P4 s w8 G: o; Q
involved in testing
5 V% R& [5 R0 ~1 n: f) y8 R* v
with a government agency
) P* K) Z# E7 | Z4 Y
in industry
7 O( |) M2 ~1 e: n2 O
other........................................
2 T8 y2 @# U* t
3.
. X! N3 } Y. ]7 q+ t
This standard was purchased from?
" F1 j+ n1 g, D- B4 @
.......................................................
! ?% }6 M: D: Q. A n# f
4.
1 a: K. P: M2 `0 b
This standard will be used
! F9 E; M2 Y* e- a/ P
(check as many as apply):
- Y/ w- ^3 z7 D' H# d1 B& t
for reference
$ Z+ U. C+ b) N' O; c
in a standards library
" {( F. H$ R9 \
to develop a new product
& x3 W& i- A0 d3 Z+ o" W2 Q* o
to write specifications
7 p1 c3 |% ~8 K' B/ f
to use in a tender
9 H! w& q2 b& G. q& M
for educational purposes
' d# ]5 t/ U9 n
for a lawsuit
/ }6 N# ?; u, {% G; \0 @) z7 r
for quality assessment
0 e) t3 c, ]; `2 L8 D- m" i3 o; @
for certification
& K8 {( t$ [, P, \6 j
for general information
( M* ?1 W t9 l* h* _3 \
for design purposes
# s. e0 u# ]! ?. s3 [, F3 B
for testing
& Y( Z o0 S2 u" e4 {/ N
other........................................
5 N2 [% p q' ]7 v4 x8 D
5.
! z( @: t( o2 p& }
This standard will be used in conjunction
o5 E0 I: f' T
with (check as many as apply):
' t2 @. C' F5 n/ j) ]; r; L* o" z
IEC
' T! d6 t8 g- i! {
ISO
) _, Z( U# t" S6 ^
corporate
' W4 R5 m" Y! ~0 G0 O0 x3 @
other (published by................... )
# y5 R7 h9 n! [; t5 M! m
other (published by................... )
( g0 w( y4 ^7 @8 Z% z# [
other (published by................... )
7 b* }. h1 S3 O& R! M
6.
0 ]8 v4 O* u3 `2 G" T
This standard meets my needs
& z0 a/ k. k5 N& ^. X
(check one)
1 b' V& n/ @- g& ?
not at all
" K6 X2 l1 e: k8 m* n, R1 O9 _$ D6 I
almost
5 y+ T( ~5 |5 N2 I! Q/ l% x
fairly well
4 R# l! L+ j7 L( @
exactly
" Q; e( g* S$ _' i& e8 p
7.
) [- D4 i% R$ s8 Z! y" j
Please rate the standard in the following
% N- H- a2 H1 c% I/ C, J" P
areas as (1) bad, (2) below average,
8 K* [8 p8 K. L: A0 `5 c" P
(3) average, (4) above average,
. L2 @$ g' L2 t
(5) exceptional, (0) not applicable:
+ G- U5 O- d) } I
clearly written
: \# X. q2 A% ?6 o/ C0 O: x/ M
logically arranged
7 J) Y0 I; T: ` _1 K, h
information given by tables
X) P* _$ M1 ?6 }4 r: U
illustrations
: F, Q0 q5 J8 b4 G( \
technical information
. U; k& o$ n% D( A- S9 }. i) y
8.
4 b0 z$ ], Z' O5 Y4 A% l
I would like to know how I can legally
& k6 |. I: Y- @; u- v- l
reproduce this standard for:
9 g. B: O- u0 J# E! ?, I9 ]
internal use
" O( N& v& {* u, m, c7 i
sales information
4 H; ^4 X- b4 x5 N# F; K) S+ A
product demonstration
) c9 ^: ?/ y. J$ v
other ................................
3 _( b* d) c; C/ s% x: d. L0 I0 M
9.
7 ?, g! u7 e3 h4 ^9 L
In what medium of standard does your
7 D3 [+ [. B2 D' N( @
organization maintain most of its
7 n+ _5 E, k( y3 j0 j
standards (check one):
& t: G8 o0 {- B) ?5 _
paper
9 F& f3 M: X& N0 d
microfilm/microfiche
1 t1 ?% ?# r f9 y; A
mag tapes
3 h2 Q8 i" B" Z; x+ m6 Q! U/ O
CD-ROM
' _+ A+ Y" b+ ^/ g+ ~2 M, F
floppy disk
2 q& E- w9 c6 p; c2 j, ~
on line
. q$ f- J7 x x4 _ n3 `
9A.
- e0 M8 }1 v b3 z5 Z0 C; g* Y
If your organization currently maintains
# g9 X; e! \) B2 `: S5 j: z
part or all of its standards collection in
0 N: l8 H& v) I; I. i
electronic media, please indicate the
" k$ S- \" m2 o" R( Y( {3 Y0 Q" Q
format(s):
% `& l" L9 G) {' T
raster image
/ ^; t7 L0 e3 D
full text
7 M. @" p8 q, W; |9 r4 ?
10.
7 @. p2 e4 _/ z; j3 y
In what medium does your organization
# D( o& e2 B% n8 q6 Q7 ~+ j9 G
intend to maintain its standards collection
. X! N: k+ y8 k7 b8 z8 k
in the future (check all that apply):
s1 u+ v5 D1 s3 j( Z& P
paper
/ p! F# e1 {) k! I/ ?, S
microfilm/microfiche
7 F4 I5 G- n% M$ c* v/ i% H
mag tape
* i& K+ t9 K! U0 K
CD-ROM
% z5 H& V3 S: d" u8 |0 g0 P
floppy disk
6 \* `, P# J& K6 | [
on line
1 r& |1 C+ h7 x
10A.
9 a$ V* W6 v/ b% T$ Z
For electronic media which format will be
- W- V- {& x2 f; i
chosen (check one)
2 \5 i& g4 P. x4 ^8 o& b0 t
raster image
7 G* N3 i a4 n, j
full text
8 Q' b$ J# d9 O Y9 n/ c) W
11.
5 _# g2 s: V1 y; f3 m0 ~" ?* [9 Y
My organization is in the following sector
( u4 |" C; P0 R. u0 Y4 R! T3 D
(e.g. engineering, manufacturing)
6 l e* {2 H- s1 |7 A, E, h' Z
...............................................
" Y& s( s5 ~( z! [- M5 L7 y# @
12.
5 t8 V1 z0 u# S% z. H7 d
Does your organization have a standards
* n3 g, r+ h! T$ T8 J# `. S1 y
library:
& D7 l0 O8 ~3 u1 ]6 P1 W6 d. G
yes
( o6 h/ N9 F& ^; [- e3 D. c7 q
no
' u0 h, {6 G3 n0 T$ h0 c
13.
4 S$ S# h. f5 k- `, }! q9 V' [$ j
If you said yes to 12 then how many
/ `5 P: q) o( S
volumes:
6 @2 D' |/ \" r
................................................
) S; U. q4 m w4 f
14.
/ f$ S o9 v/ e* W) z
Which standards organizations
4 F3 [0 I9 V6 J6 o/ r
published the standards in your
; G% K4 _4 f; p
library (e.g. ISO, DIN, ANSI, BSI,
8 M' ?' }& p. z
etc.):
, l% m3 S# Z. @% y: o7 J
................................................
. n( L( x5 j0 F" ~! P5 d, X
15.
; B1 ?# \) R/ V; P+ d) }
My organization supports the
9 h) D v% o6 W' ]7 o: u" S% N/ X
standards-making process (check as
# H. G9 z( Y0 z3 j& D6 G; Q
many as apply):
& F& C$ Q; J) o, z. l: m) y P
buying standards
8 P$ C; N; U' l8 y/ X
using standards
3 X# z( B$ V7 s/ ]5 z9 o$ ?! ]
membership in standards
- {3 O% l7 ^- {; Y, ^1 x
organization
* k3 s4 u6 b, B. C8 v$ T# |
serving on standards
+ k. g: ~: U7 E) W! v
development committee
2 C8 S* d% y: T4 W' n
other ................................
" l2 O6 T& H) A3 u2 n
16.
3 y2 s) P* v0 t$ X- j; J( Q
My organization uses (check one)
& _; [8 Z _( ~7 y& ]. @
French text only
& q% H, ]$ o9 x% `* C) I
English text only
; O, W/ U% c' i7 L. e k5 w
Both English/French text
$ R3 t5 f, d8 x
17.
3 z. }8 V9 d- a' M5 `! w2 t
Other comments:
( H$ R# P: M# k% \4 w8 U8 S
........................................................
% e2 n* N5 c$ |( a% E7 b4 h
........................................................
% p2 [. j% i4 H$ p5 x) `
........................................................
% c+ s) H" |% G; j8 Q9 K# H
........................................................
- N- Z4 l/ n: |+ h5 n2 \7 A
........................................................
/ V1 l8 f% m5 j8 n* s4 Z: e
........................................................
7 C4 c& F, D+ T' L/ c% L% M8 q
18.
( ]7 ?6 j V w* }/ I9 D' B
Please give us information about you
% T1 p% t( n% W# d. [
and your company
) B+ Y8 u( t) i" y$ g
name: ..............................................
+ ~( j g5 s& j' ]* R
job title:............................................
9 ]) g7 W: P9 c; N# n" I% D
company: .........................................
- q, f/ W1 K, L) _4 d
address: ...........................................
4 t8 D6 v7 s: x1 `" J4 o8 } I
........................................................
; P; \5 b+ a: `, M; G4 p. |6 f
........................................................
- z* a( U4 Y. b- l
........................................................
8 \. D* F2 \4 ~) `
No. employees at your location:.........
; F/ M5 B5 w2 O8 f
turnover/sales:..................................
7 n3 Z, z0 Y% p, n4 k; o( h8 U
Enquête sur les normes
; q0 |( Z# v' u3 x
La CEI se préoccupe de savoir comment ses normes sont accueillies et utilisées.
! o H, y! L3 }( p, V# z
Les réponses que nous procurera cette enquête nous aideront tout à la fois à améliorer nos
2 I' c/ f2 h* r- J3 v0 s0 X0 [
normes et les informations qui les concernent afin de toujours mieux répondre à votre attente.
+ p$ A; F9 } e
Nous aimerions que vous nous consacriez une petite minute pour remplir le questionnaire
% W) y1 h+ {: n, b
joint que nous vous invitons à retourner au:
6 ~, R* \ B3 R0 f! ?; P/ ]$ O: z
Centre du Service Clientèle (CSC)
- [2 `" n' _$ y. E
Commission Electrotechnique Internationale
2 j3 l1 }) A j
3, rue de Varembé
; m+ \4 E. r% y6 y
Case postale 131
, D( d" K: F/ S$ V
1211 Genève 20
n! m$ \ u8 \5 t8 G/ S: d! v
Suisse
6 r5 s2 d7 t8 w. K. ^
Télécopie: IEC/CSC +41 22 919 03 00
% f9 @2 Z6 @1 ]5 D! V
Nous vous remercions de la contribution que vous voudrez bien apporter ainsi
, v. _) W6 d1 S! {* F+ r) G
à la Normalisation Internationale
5 N* A4 I4 D2 S# R
Non affrancare
3 x6 y4 [8 `, U5 j# b' v8 J
No stamp required
' H4 l! W, h, f
Nicht frankieren
( o2 F8 g: i) V$ W3 }- Y. y2 a
Ne pas affranchir
+ m; {3 x4 k. n U* ?
A Prioritaire
% F: t3 a) i2 ]: r2 ^
RÉPONSE PAYÉE
0 z! Q; c* G' R/ s0 r& |
SUISSE
5 l& y2 Z2 z7 \& w5 Z/ Z
Centre du Service Clientèle (CSC)
. e, u6 p( v8 _' P+ ~ U }! l
Commission Electrotechnique Internationale
" }- M) m/ n# t" Y+ G
3, rue de Varembé
2 I p6 s0 ~& c( D
Case postale 131
+ H6 X2 G, Q, F! j3 B A
1211 GENÈVE 20
* n4 I* i) `# D+ ~* m( H7 }, Q# {
Suisse
6 P; @. I1 S& o8 \- G6 @. _" }
1.
Q+ f1 J2 U" _/ D
Numéro de la Norme CEI:
% a0 P' L) S. a% s; e* d
.......................................................
, J+ A! R* s9 ?( w
2.
1 \3 j: L, e0 X1 Q! L# F
Pourquoi possédez-vous cette norme?
, x, ?' e( w8 y% @- V
(plusieurs réponses possibles). Je suis:
" X! `. N! A( w6 Y( D% _2 b
l’acheteur
* `7 l; E0 n y+ \" o. e
l’utilisateur
( M1 Q' |, a# z7 X" l" a0 i s
bibliothécaire
b: W1 h- B$ x3 u+ x* Q5 ?
chercheur
& R1 K9 M; r$ b; ]7 e9 y
ingénieur
K6 q1 o* Z5 t( J1 _! A6 O
expert en sécurité
! v# a5 p! R) a3 W6 A
chargé d’effectuer des essais
; `! n9 V V- Q$ K- G2 e7 D& X" ^
fonctionnaire d’Etat
- f( @% P% h5 Q0 w% R3 K9 }
dans l’industrie
6 e/ z# W1 s5 b5 Z. r4 O9 c8 E
autres ......................................
3 L! B1 g- u) _5 m9 v
3.
O, B' |! |+ L3 h
Où avez-vous acheté cette norme?
, ]/ N2 l; h# e8 `! w# U d8 _
.......................................................
, r- C' l3 V, R% t# Z
4.
5 S" U5 n: L* s, M7 V
Comment cette norme sera-t-elle utilisée?
q6 u' u! v0 |: s8 E* X3 l
(plusieurs réponses possibles)
9 e ?" K1 H$ {5 p% s6 L9 S" V' T
comme reférence
i" C7 F! ^ f8 F7 E+ K8 W) c/ \
dans une bibliothèque de normes
2 K4 Y. b6 [# P t s r. J( o# P/ V
pour développer un produit nouveau
7 h- s2 ~* p. Y- ^+ z" q. B
pour rédiger des spécifications
( O9 I' M9 R4 x
pour utilisation dans une soumission
" i! K1 N7 c: B6 K
à des fins éducatives
8 g8 t. V2 K+ ~' G/ Q
pour un procès
( w4 y9 X- D0 d) ?. y/ \( _8 d
pour une évaluation de la qualité
! H; `/ g3 ]5 X; X
pour la certification
1 E) K6 G2 T7 }2 R _) D
à titre d’information générale
# l5 |+ C% x" I- V' v7 ?
pour une étude de conception
- a1 s4 `: ^) |" Q; y7 p
pour effectuer des essais
2 [& ^/ @. t4 M9 t' ?$ z- R
autres ......................................
/ H( x5 `7 }; O2 M! K
5.
% j' t; t: i- n, }6 h: H
Cette norme est-elle appelée à être utilisée
) q( i& J) H0 \, ?
conjointement avec d’autres normes?
% n! w- v2 `* }/ L0 `4 V) X4 e
Lesquelles? (plusieurs réponses possibles):
, w5 `' W2 D; Q& @" z
CEI
( w4 F4 _) |5 c; t9 D
ISO
- |! b0 `' ?: l' e) d! l
internes à votre société
% c. b' b# y* y2 f
autre (publiée par) .................... )
, L" N' p$ ]' i/ W% ~% J. W2 \
autre (publiée par) .................... )
$ ?& x- g7 U3 U) |& p- E& a
autre (publiée par) .................... )
( P( n6 B) S7 _, v! I) i
6.
# _& T9 C5 {4 L. s- D! X
Cette norme répond-elle à vos besoins?
5 X( ^% x7 h P% }3 S) X7 Y+ ?
pas du tout
' J$ f+ }9 Z3 C2 f, U6 b
à peu près
5 W. O0 H( K1 r4 E6 h0 l4 n$ ~
assez bien
5 U. A H7 A" }/ k# j/ @
parfaitement
" s6 m* ]+ S7 N' `$ ?% H/ S
7.
o: \$ ~; U% E( Z* @
Nous vous demandons maintenant de donner
x6 f' L; D. M& `5 ~+ x
une note à chacun des critères ci-dessous
# m. i0 v4 O i1 {
(1, mauvais; 2, en-dessous de la moyenne;
! c2 W1 _) Z; q7 T; i) i' N
3, moyen; 4, au-dessus de la moyenne;
5 @8 T W% j4 k% O
5, exceptionnel; 0, sans objet)
2 _3 {/ ]: \+ Y! q4 A2 K N1 ]5 Y( G
clarté de la rédaction
6 @0 m2 s' f D
logique de la disposition
! a9 [9 D4 u& Y) i0 U& A
tableaux informatifs
4 E) |* q( }# `) ] F4 |
illustrations
% H" j$ f1 f: c
informations techniques
* i$ h0 G0 n; E
8.
6 ]" F$ S0 M# L7 |$ a& ]
J’aimerais savoir comment je peux
" p# @, B& M2 T7 X4 X4 C& W
reproduire légalement cette norme pour:
; f' m7 _' d; d
usage interne
3 H# \6 Y$ t i6 k1 z
des renseignements commerciaux
) g$ P c+ x; }% B
des démonstrations de produit
) F4 `6 f3 z) k& T2 |
autres ..............................
+ ]" m- q0 Q, r8 c, v
9.
9 |6 {' D: H* R! T
Quel support votre société utilise-t-elle
- Q+ O1 |8 \9 i6 F- K2 E
pour garder la plupart de ses normes?
$ Z) @, y( y5 N
papier
3 E6 W: G9 N# W' l
microfilm/microfiche
9 W% Y. U; P2 I' n8 \/ a5 O
bandes magnétiques
& X; Y+ f. J2 z- P% s
CD-ROM
- `; R' v. }1 q4 @+ V
disquettes
4 T, u4 [" J. \5 A6 K9 I$ c9 k
abonnement à un serveur électronique
r0 p- M. _) V1 W3 g: a
9A.
( J3 e; w0 K, ]' V) o
Si votre société conserve en totalité ou en
/ h) Z* G: g3 U# W/ H
partie sa collection de normes sous forme
% S! w7 V" n7 h* d
électronique, indiquer le ou les formats:
" G( a( `2 i* I9 Y0 D# K9 K
format tramé (ou image balayée
3 K+ B( y2 O8 S& Y8 ]
ligne par ligne)
, p$ z- k; w1 e9 V
texte intégral
6 q0 i1 S* ?1 h* }3 @
10.
6 J- J) ~0 G& b- V. p
Sur quels supports votre société prévoitelle
+ k+ t) _% e) u$ Q7 I: L. h
de conserver sa collection de normes
) U! t0 r! h: W7 b" t& T# }( Q
à l’avenir (plusieurs réponses possibles):
% {8 |0 F( g; u4 z
papier
+ R% `* S% G, ^5 V
microfilm/microfiche
% X& f) v- l r- v: P! H: G
bandes magnétiques
( @1 u9 g: m/ T2 m" k2 g
CD-ROM
1 f1 H+ ~, }* ^
disquettes
( W# ~+ n) E7 D) E1 ^
abonnement à un serveur électronique
; t3 p- u* J8 T* Q1 B
10A.
' L3 B. |9 [8 D e/ t
Quel format serait retenu pour un moyen
0 F# g# v* [; L. T9 U" J
électronique? (une seule réponse)
, U# K# p# M& \0 \6 l$ S, O9 t
format tramé
& f1 @3 O2 N2 p6 e5 M2 Q* {
texte intégral
+ Q+ i; `) z# R( R0 G) `
11.
6 I \9 w# C$ F+ K7 b9 @4 G2 m
A quel secteur d’activité appartient votre société?
/ O$ r2 x# y/ n7 M8 J% G
(par ex. ingénierie, fabrication)
. U, P0 s1 T% }' c
...............................................
6 s/ A0 c" b' r/ h' B/ |
12.
9 E y6 A' q8 N. h+ F
Votre société possède-t-elle une
1 s& ~$ e$ I* k- Y0 a
bibliothèque de normes?
5 B& y8 ?) O& u; B4 {
Oui
4 @) _2 o5 M4 `3 n7 _; I' {
Non
! m8 D4 ?, K& i
13.
" d" n. m+ M' V Z% {
En combien de volumes dans le cas
0 F) v5 ]( ~# }' K* a) N
affirmatif?
# m6 D9 F3 Z- ~% B5 z) { U
................................................
+ ] J2 F, J0 E4 t7 N* J
14.
8 u' o( i% ?, ~; p) p
Quelles organisations de normalisation
$ B" R8 c8 S5 ~6 A5 F
ont publié les normes de cette
; Y$ b$ O8 |0 w$ F1 s
bibliothèque (ISO, DIN, ANSI, BSI, etc.):
M/ K+ {' x9 A- U! J) @0 `
................................................
3 p0 y& g. F" o; V% J+ P
15.
+ x& P- g7 w$ R3 t& S% h1 I
Ma société apporte sa contribution à
# p Y1 h4 {8 C% U) [1 ?3 R2 d' G
l’élaboration des normes par les
/ O7 N4 K$ K# {# {5 B7 y2 C# E
moyens suivants
/ v: N1 n- Z' M/ f. D* o- Y0 l
(plusieurs réponses possibles):
4 d0 X1 G' e; t. w8 @
en achetant des normes
+ q' O" S& U' W) U: D
en utilisant des normes
8 E; K3 w8 Z6 a: _$ ~
en qualité de membre d’organisations
* Y1 j9 x8 s7 ^5 [+ v# ^8 }/ A
de normalisation
2 I. m( k, _ A% h
en qualité de membre de
% c' Z% r3 P/ E) F0 x: B" I
comités de normalisation
! H+ O7 C/ |3 J( ~+ x$ J: ]
autres ..............................
_2 R+ a" x8 _
16.
8 l/ m" S) ^7 N; O. b
Ma société utilise (une seule réponse)
% M. y$ t8 Q0 n1 X* `
des normes en français seulement
$ F9 T2 b) ?9 i/ O: e+ y/ d } \; G$ d
des normes en anglais seulement
: j! D5 i' v0 A2 s
des normes bilingues anglais/
: D" m9 C9 y% D0 |
français
a; ?, X) A* \0 u o
17.
- u+ w2 f: N% S# p
Autres observations
2 p8 b+ @) X. m: y
........................................................
7 f, X4 Z% I# P% m0 t9 B
........................................................
) u/ y8 Z/ ~$ B! |
........................................................
0 B8 M" [% z2 l8 O* F- E- R6 _; O
........................................................
& y1 U: y6 s; E& Z* }4 ^
........................................................
0 T7 ~3 A3 L% o, ]7 r3 J, o5 }
18.
5 y. o' W% ~" s# _% V
Pourriez-vous nous donner quelques
3 R: L) Q& M' z8 N
informations sur vous-mêmes et votre
0 m) | t' m- i q5 z$ [9 b2 l& I: t
société?
& `2 z, m t; @# p! [+ U/ X7 ]
nom .................................................
# H3 U7 u h% y W1 A
fonction............................................
' H% O3 g/ a& A/ j" O
nom de la société .............................
( ]% D/ ~: b& k2 H- g
adresse............................................
8 W" m' c( B% C" F- [% q* U" c) t- U) S
........................................................
) j1 t5 B T7 r7 d4 `
........................................................
& f* ]+ e; @$ \3 V* W! m& F4 \. ~) s
........................................................
1 x; d+ B% {0 y" i/ N5 P& \
nombre d’employés...........................
9 j& r1 e- ]; C% D: x
chiffre d’affaires:...............................
* H: [" G3 T! o& V% e
Publications de la CEI préparées IEC publications prepared
" P O' F6 }# P, C, Z; ^' {
par le Comité d’Etudes n° 82 by Technical Committee No. 82
8 F8 U' y( B' a
60891 (1987) Procédures pour les corrections en fonction de la
! O8 e( j2 L0 N: {4 V" p& y
température et de l'éclairement à appliquer aux
^! H$ L1 z: I; L
caractéristiques I-V mesurées des dispositifs
8 y7 q: ~1 V# O% b1 g
photovoltaïques au silicium cristallin.
% m* L: m. I: Y( _, X
Amendement 1 (1992).
- l3 X. q* j! l" _( L/ a/ b2 B
60891 (1987) Procedures for temperature and irradiance corrections
1 ]+ b+ w' _- X' t
to measured I-V characteristics of crystalline silicon
. b2 n0 d2 y6 g0 { n0 e- G! j
photovoltaic devices.
3 f( D9 A# g3 e
Amendment 1 (1992).
% O) Z$ _7 ^+ X7 B) k+ x
60904: — Dispositifs photovoltaïques. 60904: — Photovoltaic devices.
u4 Z- m! p8 L
60904-1 (1987) Première partie: Mesure de caractéristiques couranttension
4 S3 M2 E* l7 M6 a3 \
des dispositifs photovoltaïques.
6 Z0 A4 I4 r8 A. s% L
60904-1 (1987) Part 1: Measurement of photovoltaic current-voltage
, I$ ?: M4 T, i8 G
characteristics.
, [2 ]9 D) j8 K n3 G; R* q7 c
60904-2 (1989) Deuxième partie: Exigences relatives aux cellules
* W% y# ?; Q V5 ~, w
solaires de référence.
L# m# `, A8 [- I5 w
Amendement 1 (1998).
, O: E( J3 `1 ]. b% ^( W4 f( J
60904-2 (1989) Part 2: Requirements for reference solar cells.
8 z! f) P1 N6 I6 U* i
Amendment 1 (1998).
' X/ P" t! D K2 T) Q
60904-3 (1989) Troisième partie: Principes de mesure des dispositifs
6 p# E5 }' \, J- s
solaires photovoltaïques (PV) à usage terrestre
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ICS 27.160
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Typeset and printed by the IEC Central Office
+ X4 I- z8 {& S; m
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