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标题: 高压测试的影响 [打印本页]
作者: final_72    时间: 2007-7-27 16:06
标题: 高压测试的影响
对adaptor 进行交流高压测试后，如果fail.请问内部电路哪里受损，是Y2电容吗？
# y  n9 m! L/ `另外，高压测试adaptor后，即使高压fail,但是adaptor 仍能使用，请问为什么
作者: barry    时间: 2007-7-27 16:24
引用第0楼final_72于2007-07-27 16:06发表的 高压测试的影响 :' R4 p- E! H5 e! N$ w' O
对adaptor 进行交流高压测试后，如果fail.请问内部电路哪里受损，是Y2电容吗？
2 q: d* X& N5 \7 G6 [( e2 S6 u, [另外，高压测试adaptor后，即使高压fail,但是adaptor 仍能使用，请问为什么
, T" C) m0 b& ?$ q" I  k4 p
不一定是Y2。。。
' Y" x/ B4 `0 n  b
8 m: T- v& G' S* ]* S依赖于你的产品的受试部位和你的产品的结构。
6 l, m$ O; G+ j+ n" S" u! Q5 l. ^% o
举例，如在初、次极间高压不过，4 W$ v: ]3 }0 E: k

* s4 X- b# I+ A3 ^: B9 r8 J8 `可能的位置有：
2 z" g3 Y: g$ D8 N' U4 O; l
6 ?& C7 I3 j3 ?/ F" ^/ M4 A1）初、次间的Y电容" g3 p( O/ X6 h+ _& s
7 j6 F1 W, ?. V
2）初、次间的隔离变压器
0 J, p- L, N; j
$ r5 N0 V; F2 K, T! e3）开关管与散热片之间的PVC片$ `% e/ G* c. E& U

% e2 }) A5 J( A6 ?5 [* [7 v. `4）初、次间的CR、CL距离不够，引起“跳火”。
5 K7 z, x/ _' Z* `) U% d- o+ _( ?! I
5）其它的情况 （依赖于产品的具体结构）
. j3 k7 u/ b. _5 j' o- y1 u4 _
, c& s. I/ r# E. r/ ?  W) Y7 e2 p  g& {% g+ K; @4 G
高压测试adaptor后，即使高压fail,但是adaptor 仍能使用，这种情况是很有可能的。
. q$ H, F. s' d  n
1 u8 s$ _0 ], p$ W2 d) G& z' H削弱的绝缘可以满足功能性绝缘，但不能满足加强性绝缘的要求。3 z: a) m! ]! p8 g! h

4 d2 G+ K/ |! Y6 j0 g我曾经碰到过开关管与散热片之间的PVC片出现破损而高压不过的情况，但产品仍能正常工作。
作者: Bruce.P    时间: 2007-7-27 19:41
有沒有遇到過Hi Pot Fail ,是因為橋堆問題造成的,
9 ?3 K9 b  P& K   [s:44] ,+ C9 _& ?% M& H; k! M
或者是其它非安規元器件的原因引起的?   [s:3]
作者: final_72    时间: 2007-8-6 16:43
目前没有
作者: dyp    时间: 2007-8-7 12:52
同意一楼的观点,
' R/ H6 k  x: x! A9 t但通常在一二次侧之间跨接的元件(Y1或Y2电容,光耦等)等已经选用经过达到加强绝缘效果认证的元件.
# _* j) M5 u3 ?* W" m在变压器(工频或高频)中,绕组绝缘也很重要.



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