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标题: 铁氧体(铁氧体磁环-铁氧体磁珠)在抑制电磁干扰(EMI)中的应用 [打印本页]

作者: gzmuestc    时间: 2008-8-6 11:44
标题: 铁氧体(铁氧体磁环-铁氧体磁珠)在抑制电磁干扰(EMI)中的应用
  用铁氧体磁性材料抑制电磁干扰(EMI)是经济简便而有效的方法,已广泛应用于计算机等各种军用或民用电子设备。那么什么是铁氧体呢?如何选择,怎样使用铁氧体元件呢?这篇文章将对这些问题作一简要介绍。
5 A. O: t" t4 H1 I2 u: S! s" A; W  一、什么是铁氧体抑制元件
0 Z9 a; f% f# J  铁氧体是一种立方晶格结构的亚铁磁性材料,它的制造工艺和机械性能与陶瓷相似。但颜色为黑灰色,故又称黑磁或磁性瓷。铁氧体的分子结构为MO·Fe2O3,其中MO为金属氧化物,通常是MnO或ZnO。% E6 o5 I% I' O
  衡量铁氧体磁性材料磁性能的参数有磁导率μ,饱和磁通密度Bs,剩磁Br和矫顽力Hc等。
( Z3 c1 c; y: B" N! `# P7 E  对于抑制用铁氧体材料,磁导率μ和饱和磁通密度Bs是最重要的磁性参数。磁导率定义为磁通密度随磁场强度的变化率。 ' {6 C/ m- ^1 X9 `: A( M) S! d& z

3 ~+ I7 ?4 a; Q9 p& d4 gμ=△B/△H
  A5 |- `, d4 z. w* X, I # P9 m9 v" ~0 S% G* x0 H
  对于一种磁性材料来说,磁导率不是一个常数,它与磁场的大小、频率的高低有关。当铁氧体受到一个外磁场H作用时,例如当电流流经绕在铁氧体磁环上的线圈时,铁氧体磁环被磁化。随着磁场H的增加,磁通密度B增加。当磁场H场加到一定值时,B值趋于平稳。这时称作饱和。对于软磁材料,饱和磁场H只有十分之几到几个奥斯特。随着饱和的接近,铁氧体的磁导率迅速下降并接近于空气的导磁率(相对磁导率为1)如图1所示。
. `) G! {  E: n4 L
8 l  ~  b. Y- f7 q图1 铁氧体的B-H曲线 + v2 a$ p% i. P5 p
1 X7 M* @9 T% Y3 A
  铁氧体的磁导率可以表示为复数。实数部分μ'代表无功磁导率,它构成磁性材料的电感。虚数部分μ"代表损耗,如图2所示。
# ]) l8 _# u( S7 G( g6 H$ O% u
# a; [. m6 h! s                     μ=μ'-jμ"
2 b. c& ?; U" v8 _) H
- {1 n2 m! K* s( C图2 铁氧体的复数磁导率 - ~  ]2 f4 Y& O' z5 e

3 w2 S, G: d, |5 i9 e6 I/ q) \! L  磁导率与频率的关系如图3所示。在一定的频率范围内μ'值(在某一磁场下的磁导率)保持不变,然后随频率的升高磁导率μ'有一最大值。频率再增加时,μ'迅速下降。代表材料损耗的虚数磁导率μ"在低频时数值较小,随着频率增加,材料的损耗增加,μ"增加。如图3所示,图中tanδ=μ"/μ' . u$ ~/ x/ f0 ~! n: ]. J7 l
( ~6 B: i( M5 k# W! ], ?
& R& Z8 T- V/ }
图3 铁氧体磁导率与频率的关系 - d1 E5 V, W( l& J' X
, G: ]) n2 \# K# L4 K1 T

% K3 l1 c- I! d
$ _4 H/ v+ Q' c: c# e: n图4 铁氧体抑制元件的等效电路(a)和阻抗矢量图(b)
" K$ f4 O3 Y7 k
3 Q* Y. Y/ }3 _0 E$ ]* s; y" x二、铁氧体抑制元件的阻抗和插入损耗/ f' z( a7 U, m6 Z7 V4 o3 x
  当铁氧体元件用在交流电路时,铁氧体元件是一个有损耗的电感器,它的等效电路可视为由电感L和损耗电阻R组成的串联电路,如图4所示。 - s3 L5 i, U% m! e2 C' k
9 o0 T, I$ z" f& i) V: m8 E. U( j7 ?
  铁氧体元件的等效阻抗Z是频率的函数Z(f)=R(f)+jωL(f)=Kωμ"(f)+jKωμ'(f) & j3 @" L4 }; F
3 b+ @- W0 l7 B& t$ ?: `4 G
  式中:K是一个常数,与磁芯尺寸和匝数有关,ω为角频率。) r; v1 ?- H# q5 u. U9 \
  损耗电阻R和感抗jωL都是频率的函数,图5是材料850磁珠的阻抗、感抗和电阻与频率的关系。在低频端(<10MHz)阻抗小于10Ω,随着频率的增加,由于电阻分量增加,使阻抗增加,电阻逐渐成为主要部分。在频率超过100MHz时,磁珠的阻抗将大于100Ω。这样就构成一个低通滤波器,使高频噪音信号有大的衰减,而对低频有用信号的阻抗可以忽略,不影响电路的正常工作。这种滤波器优于普通纯电抗滤波器。后者会产生谐振,造成新的干扰,而铁氧体磁珠则没有这种现象。
  L/ k3 h: P& ~2 g. k0 c
2 U8 h, y) Y( p4 D图5 铁氧体的阻抗与频率的关系 4 N" v$ s1 P1 O# q" [- F

3 _5 d# ~, n( F9 [  铁氧体抑制元件应用时的等效电路如图6所示。图中Z为抑制元件的阻抗,Zs和ZL分别为源阻抗和负载阻抗,Z为铁氧体抑制元件的阻抗。8 P* W0 E: v, m: Z! I" F/ N
  通常用插入损耗表示抑制元件对EMI信号的衰减能力。器件的插入损耗越大,表示器件对EMI噪音抑制能力越强。
- B; y6 X5 Q# n, G1 X6 q# F
( E' C% _  y0 @7 W图6 铁氧体抑制元件应用电路
4 F$ L! a. x3 Y" W! v% o) m* p
5 ?# S6 W( B9 X) d5 _/ i5 l5 f插入损耗的定义为
1 Z) G5 b' \1 N  + i  E5 a1 B% @: b* S3 K
式中:P1、V1分别为抑制元件接入前,负载上的功率和电压。
* L7 x4 a/ y" g$ y( TP2、V2分别为抑制元件接入后,负载上的功率和电压。% C* q3 ]6 `- e! x) \; i( c
插入损耗和抑制元件的阻抗有如下关系: % \& L7 m3 y, q0 }' B' m% O7 t
  . j1 N7 U( T( ^9 @( g
  由上式可见,在源阻抗和负载阻抗一定时抑制元件的阻抗越大,抑制效果越好。由于抑制元件的阻抗是频率的函数,所以插入损耗也是频率的函数。抑制元件的阻抗包括感抗和电阻部分,两部分对插入损耗都有贡献。在低频时,铁氧体的μ"的值较小,损耗电阻较小,主要是感抗起作用。在高频端,铁氧体的μ'值开始下降,而μ"值增大,所以损耗起主要作用。低频时,EMI信号被反射而受到抑制,在高频端,EMI信号被吸收并转换成热能。8 A5 v$ d3 G7 u4 o# r3 G+ ?
三、铁氧体抑制元件的应用3 W6 _( t  Z3 _
  铁氧体抑制元件广泛应用于PCB,电源线和数据线上。
/ T* _( _4 B* v& S5 Z, W$ m1、铁氧体抑制元件在PCB上的应用
  G/ r0 [& l7 K$ h" G  EMI设计的首要方法是抑源法,即在PCB上的EMI源将EMI抑制掉。这个设计思想是将噪音限制在小的区域,避免高频噪音耦合到其他电路,而这些电路通过连线可能产生更强的辐射。( {/ ]8 a5 G; H! K9 c8 E4 n
  PCB上的EMI源来自周期开关的数字电路。其高频电流在电源线和地之间产生一个共模电压降,造成共模干扰。电源线或信号线会将IC开关的高频噪声传导或辐射出去。
+ L6 y/ S. m" L  在电源线和地之间加一个去耦电容,使高频噪音短路,但是去耦电容常常会引起高频谐振,造成新的干扰。在电路板的电源进口加上铁氧抑制磁珠会有效的将高频噪音衰减掉。
: W; Q/ z0 e/ R- H2、铁氧体抑制元件在电源线上的应用
, z) F! B. K2 f, l0 w  电源线会把外界电网的干扰、开关电源的噪音传到主机。在电源的出口和PCB电源线的入口设置铁氧体抑制元件,既可抑制电源与PCB之间的高频干扰的传输,也可抑PCB之间高频噪音的相互干扰。# G0 ?& v7 v0 r4 e( q- v
  值得注意的是,在电源线上应用铁氧体元件时有DC偏流存在。铁氧体的阻抗和插入损耗随着DC偏流的增加而减少。当偏流增加到一定值时,铁氧体抑制元件会出现饱和现象。在EMC设计时要考虑饱和或插入损耗降低的问题。铁氧体的磁导率越低,插入损耗受DC偏流的影响越小,越不易饱和。所以用在电源线上的铁氧体抑制元件,要选择磁导率低的材料和横截面积大的元件。' C/ `/ o0 [* }  `; H1 D
  当偏流较大时,可将电源的出线(AC的火线,DC的十线)与回线(AC的中线,DC的地线)同时穿入一个磁管。这样可避免饱和,但这种方法只抑制共模噪音。8 c3 Q# w( s  t
3、铁氧体抑制元件在信号线上的应用9 N8 l1 h" w4 `
  铁氧体抑制元件最常用的地主就是信号线,例如在计算机中,EMI信号会通过主机到键盘的电缆线传入到主机的驱动电路,而后耦到CPU,使其不能正常工作。主机的数据或噪音也可通过电缆线传出去。铁氧体磁珠可用在驱动电路与键盘之间,将高频噪音抑制。由于键盘的工作频率在1MHz左右,数据可以几乎无损耗地通过铁氧体磁珠。
0 b5 H. n) C3 a3 j( C: y& {  偏平电缆也可用专用的铁氧体抑制元件,将噪音抑制在其辐射之前。0 W" L; i' F0 Y9 C$ C
4、铁氧体抑制元件的选择( f" e$ @1 a. u  q) c% j, q5 S/ Y. y
  铁氧体抑制元件有多咱材料和各种形状、尺寸供选择。为选择合适的抑制元件,使对噪音的抑制更有效,设计者必须知道需要抑制的EMI信号的频率和强度,要求抑制的效果即插入损耗值以及允许占用的空间包括内径、外径和长度等尺寸。" G0 N% U" Z* E' e
4-1铁氧体材料的选择
4 T8 ]: N6 A6 L7 |  V" P  不同的铁氧体抑制材料,有不同的最佳抑制频率范围,与磁导率有关。通常材料的磁导率越高,适用抑制的频率就越低。下面是常用的几种抑制铁氧体材料的适用频率范围:
% l# F0 w5 X" G" K# q6 v, L5 C  磁导率    最佳抑制频率范围
0 W$ ]% N0 B1 k, N/ ~+ Y  125      >200MHz  
( }, f8 ?+ w- e3 }( e9 ~/ q; _  850           30MHz~200MHz
, c/ S4 p* i4 T& ^  2500         10MHz~30MHz- A  J7 K2 y3 p
  5000     <10MHz
% n# y% Q1 [& M  在有DC或低频AC偏流情况下,要考虑到抑制性能的下降和饱和,尽量选用磁导率低的材料。
9 W$ Y5 Z  P) |  q1 w4-2 铁氧体抑制元件尺寸的选择+ L! {8 T- X$ A7 Y
  铁氧体材料选定之后,需要选定抑制元件的形状和尺寸。抑制元件的形状和影响到对噪音抑制的效果。9 D/ R$ @6 j' {; L5 A1 K* S3 i
  一般来说,铁氧体的体积越大,抑制效果越好。在体积一定时,长而细的形状比短而而粗的形状的阻抗要大,抑制效果更好。但在有DC或AC偏流的情况下,要考虑到饱和问题。铁氧体抑制元件的横截面积越大,越不易饱和,可承受的偏流越大。另外,铁氧体的内径越小,抑制效果越好。
* P$ D7 y4 I- q  总之,铁氧体抑制元件选择的原则是,在使用空间允许的条件下,选择尽量长,尽量厚和内孔尽量小的铁氧体抑制元件。
; x: g$ h; X" N, x7 n5、铁氧体抑制元件的安装+ }& t7 N' J! E1 G4 ^( A
  同样的铁氧体抑制元件,由于安装的位置不同,其抑制效果会有很大区别。
8 m# N# v: p1 I# p% D  在大部分情况下,铁氧体抑制元件应安装在尽可能接近干扰源的地方。这样可以防止噪音耦合到其他地方,在那些地方可能噪音更难以抑制。但是在I/O电路,在导线或电缆进入或引出屏蔽壳的地方,铁氧体器件,应尽可能靠近屏蔽壳的进出口处,以避免噪音在经过铁氧体抑制元件之前耦合到其他地方。" i- n% s# W. P' }7 L
  铁氧体磁管穿在电缆上后要用热缩管封好




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