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标题: 求助: inject current immunity [打印本页]

作者: yuanhao177 时间: 2008-5-16 09:09
标题: 求助: inject current immunity
各位大佬:
我现在有个案子做EMC inject current immunity fail了, 我不知道这个测试是针对什么地方进行的测试,是考量产品的什么性能,导致这个项目不合格的原因可能为什么?请各位不吝赐教!
它所依据的标准是EN 55014-2:1997+A1:2001 Reference: IEC 61000-4-6:1996+A1:2000
PS:产品为空调

作者: H-RH 时间: 2008-5-16 10:13
這是在電源輸入加上雜波造成干擾,一般情況而言,必須對電源輸入加上 filter, 如 X2 capacitor.
亦可能要在電路控制部份之直流電源加大電容(高/低頻)或加 ferrite bead 以増強抗干擾能力

作者: yuanhao177 时间: 2008-5-16 10:28
恩,我这款产品在30-40MHz时就over了,导致系统紊乱,状态(制冷,制热,除湿,通风)不断切换,但并未死机,当取消干扰信号时,其记忆功能紊乱,状态依然不断切换,像此中现象,大致为何原因导致,不知道wongyatwah 是否有整改案例?
请赐教!!

作者: H-RH 时间: 2008-5-16 10:53
你的產是否有 MCU 內有 FLASH RAM, 經常要讀入外來參數,記錄在 FLASH RAM 中,而且由這些參數決定如何下一步調控?

作者: yuanhao177 时间: 2008-5-16 11:07

引用第3楼wongyatwah于2008-05-16 10:53发表的 :
6 L2 ~; g0 b; m你的產是否有 MCU 內有 FLASH RAM, 經常要讀入外來參數,記錄在 FLASH RAM 中,而且由這些參數決定如何下一步調控?

的确在MCU内有flash ram,您是讲需要参照纪录的参数进行调控?

作者: H-RH 时间: 2008-5-16 11:31
是! 因為很多PID control 調控需要取大量數據來計算,這些數據會存在flash ram內,
如果取數受到干扰而錯誤,即使 MCU 沒有死机,亦因數據錯誤而錯判!
但電源不穩或讀入參數(可以是溫度)之路線受到干扰也可以做成讀數錯誤！

作者: bamboolight 时间: 2008-5-19 08:41
楼主的测试端口是电源端口吗？
EMI方面要没有问题？

作者: yuanhao177 时间: 2008-5-26 10:00
谢谢,各位大佬,这个问题已经搞定啦~! 换了个模块,就O啦,产品设计有缺陷~

技术把我害苦了!

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