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标题: 关于耐压测试和高频导体泄漏电流 [打印本页]

作者: xiaoning    时间: 2017-9-28 23:51
标题: 关于耐压测试和高频导体泄漏电流
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1:现象:输入到外壳1480V,仪器无报警,样品无闪络,灯珠闪了一下,测试结束后灯不亮
& M8 @$ b- U4 o- U1 `问题:A:灯珠击穿算耐压不合格吗?
- j+ Q. K2 P- z2 s2 [         B:大多数人是否这样测试:样品不做任何改动直接打耐压,过了就是合格,没过再找个新样品断开旁路电容,保护阻抗等等再试一次?+ q: g6 L& i) V% d. E1 W
2:IEC60598-1-2014附录G的图G.4是高频保护导体电流加权测试网络,这里有高频两个字,是否指荧光灯等高频灯具适用而LED灯具不适用?
6 z7 ], _/ Q4 A! |: o- F! O( s. E3 Q3:地面嵌入式灯具的耐静负荷测试是如何实现的?因为需要5000N的力。谢谢指教。
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作者: wmra    时间: 2017-10-18 14:50
对问题1:假设您的产品是I类灯具,
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- r; {) x" i7 R; E3 x& a9 w) hB.LN对地,1min无击穿闪络,Pass; 有击穿,Fail. 不管灯是否还亮。
; e" J& W4 W8 g% C但是如果耐压后灯不亮会通知QE与研发的。
作者: xiaoning    时间: 2017-10-18 22:45
wmra 发表于 2017-10-18 14:50$ g& d2 ~6 s" R! K# G8 [3 }
对问题1:假设您的产品是I类灯具,% {2 y3 u+ @- ^3 y! j
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) p/ o5 Z3 a  @0 }+ h( {8 k  s旁路电容不断开吗?标准上可是写了要断开




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