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标题: 冬季环温较低时，温升测试的K值和限制计算问题讨论 [打印本页]
作者: ylgc123    时间: 2015-12-17 08:31
标题: 冬季环温较低时，温升测试的K值和限制计算问题讨论
①夏季环境高，一般降到24度左右开始做测试，部分带有T值的原件限值为T-25。K值是测试中的最高温度减去最低温度。- ~- O% U2 h' q+ D
②冬季温度低，一般升到18度左右开始做测试，部分带有T值的原件限值为T-25。K值是测试中的最高温度减去最低温度。
: n# q) `) L# N) m9 v, j那么夏季一个元器件限值（T105-25=80），温升值102℃-24℃=78K，是OK的。+ _% d2 f/ q, E6 H! R1 T. y
到了东季一个元器件限值（T105-25=80），温升值102℃-18℃=84K，就F了。  H2 d8 T5 W7 H7 g5 r5 r7 I
但是元器件最高温度在24、还是在18℃时，测得值一般都是比较温度的，这种情况下大家觉得怎么处理好？
% X% U5 n$ q! @* c; {8 `23±2 不是第三方实验室不太容易稳定，所以一般按照20±5范围进行。
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作者: wjb0126    时间: 2015-12-17 08:59
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作者: martin_cheng    时间: 2015-12-17 11:07
wjb0126 发表于 2015-12-17 08:59 9 P7 m* t' i* K* B0 v
环温18和环温24测试条件下，温升试验中同一元器件的最高温度不会一样吧？

' o+ W9 {$ E$ z, h; j5 \重新确认下吧，理论上说，环境温度不一样，测得最终稳定的温度也是不一样的。
作者: 槟榔    时间: 2015-12-17 14:16
说明这个产品的密封性好，散热条件差
作者: tf77587782    时间: 2015-12-18 11:36
本帖最后由 tf77587782 于 2015-12-18 11:39 编辑
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% x: o& V9 L: ]! _( p: M试验考核温升而不考核温度，就是为了测试部件的固有特性，而且通标5.7说了，试验是在无强制对流空气的场所进行。......若有疑问时，则环境温度保持在23℃±2℃。还有就是对样品的预处理，要保证样机的初始温度，这点也很重要。
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作者: ylgc123    时间: 2015-12-18 19:27
tf77587782 发表于 2015-12-18 11:36
/ ]7 Q& j; t& q0 O+ m* b% I" Y% u试验考核温升而不考核温度，就是为了测试部件的固有特性，而且通标5.7说了，试验是在无强制对流空气的场所进 ...

  x( A' y) W) K% x问了一圈，感觉只能升到23+/-2去复测下。:
9 v% P* E( W$ e" ?
作者: yxd2008    时间: 2015-12-18 19:47
先看看你的问题是否成立？
作者: liscsupor    时间: 2015-12-19 09:39
从目前表述看，应按5.7规定“有疑问时，环境温度保持在23 °C ± 2 °C范围”进行试验。



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