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标题: LED Driver 基于IEC-61347测试时,泄露电压超出35V [打印本页]

作者: lzhyy001    时间: 2015-9-29 14:47
标题: LED Driver 基于IEC-61347测试时,泄露电压超出35V
             今天在做LED Driver测试(基于IEC-61347)时,接50KΩ电阻(AnnexA.2)测量泄露电压时,超出了标准值35V DC。             客户要我们给出一个整改方案,大家有什么好的建议呢?
: t' l; h9 r9 `' o4 l$ j" K! v/ F  r$ W# \

作者: Nezof    时间: 2015-9-29 15:16
50KΩ*0.7mA=35V
  Q. i) M8 E6 ?! f这里有0.7mA的电流,要问问你的电子工程师是怎么泄出来的
作者: wyq794    时间: 2015-9-29 16:03
本帖最后由 wyq794 于 2015-9-29 16:09 编辑
+ K, ?. V- x2 l7 H( M3 r( q* Z2 V1 Y2 }
一般泄漏电流是由桥接Y电容,桥接电阻,变压器漏电流引起的。而主要的影响因素一般是Y电容,将Y电容的容量改小,基本上可以解决此类问题,需要注意的是,将电容容量改小后,对EMC影响比较大,因此,需要重新测试下传导,辐射。从理论推导,总容量不超过2200PF((即222)的Y电容,漏电流这块基本上都可以通过,总容量为3300pF(即334)的Y电容,安规漏电流这块过与不过的几率各占50%,总容量大于3300pF的Y电容,我还没见到有过的(仅仅针对常见标准通用产品,不针对特殊标准要求)。




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