引用第2楼victorzang于2009-08-05 22:30发表的 : : x% c0 I' f. l0 utest probe B:不能接触任何器具的基本绝缘吧? 8 k! x0 C8 K6 ^4 k2 k* r% ~& \& Z9 C假设I类器具的接地金属开口可以容许test probe B进入接触到仅仅有基本绝缘保护的内部线,算不算ok?