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标题: I类器具的II类结构上电气强度的例行试验 [打印本页]
作者: yearl    时间: 2012-8-6 10:35
标题: I类器具的II类结构上电气强度的例行试验
本帖最后由 yearl 于 2012-8-6 10:42 编辑
; M# p) O! ~' c. \
5 e6 x: o1 l, r" b9 ~: m# j2 }
IEC 60335.1
标准的附录A的表A.1中说：
b For class 0I appliances and class I appliances, this test need not be carried out on parts of class II construction if the test is considered to be inappropriate.

, B: S' G* S6 O1 [
什么情况是the test is considered to be inappropriate.？能举个例子吗？
; u5 @/ b# H2 d1 B

0 _" M5 A! D8 j1 F2 l3 L2 H/ e
作者: 山炮    时间: 2012-8-6 13:37
因为是在成品上进行试验，可能会导致双重绝缘中的基本绝缘或附加绝缘承受了不该承受的高电压，也可能是II类结构的部件与接地电路存在连接，这样情况下仍按加强绝缘打2500V是不适当的。
作者: ajikei    时间: 2012-8-6 14:00
山炮哥，还不是很明白，能不能再说明白点。
作者: yearl    时间: 2012-8-6 17:03
山炮 发表于 2012-8-6 13:37 6 L3 s. v0 A& ]- Z
因为是在成品上进行试验，可能会导致双重绝缘中的基本绝缘或附加绝缘承受了不该承受的高电压，也可能是II类 ...

, L: R' o5 {2 W) p明白了，谢谢。
作者: ningshunchi    时间: 2012-8-7 16:24
山炮 发表于 2012-8-6 13:37 9 ]. o- d- C* ?5 x8 p1 p
因为是在成品上进行试验，可能会导致双重绝缘中的基本绝缘或附加绝缘承受了不该承受的高电压，也可能是II类 ...

  y% g2 A7 _. b0 E4 M9 i那能不能单独打II类结构这一块，如果它合格了，是不是也认为整机就是合格的？
作者: willing    时间: 2012-8-8 10:23
成品得按整机来测, 依标准只需按1类来测
作者: yearl    时间: 2012-8-8 15:15
I类归I类，II类归II类。该检还是要检的。
作者: tjuking    时间: 2012-8-8 19:08
山炮 发表于 2012-8-6 13:37 0 N& h0 n. a8 m6 G4 f
因为是在成品上进行试验，可能会导致双重绝缘中的基本绝缘或附加绝缘承受了不该承受的高电压，也可能是II类 ...
- F2 U1 |4 [6 f3 e6 R$ w3 [" j2 Z
我的理解是比如说你次级地通过螺丝固定在shield cover上与真实地相连，这样你初次级直接打加强绝缘就不对了。不知道我的理解对吗，炮哥
作者: yearl    时间: 2012-8-9 08:51
II类结构金属外壳上有功能接地，直接按加强绝缘打耐压是不合格的。7 e! s  U$ G6 g
型式试验时可断开此接地打耐压，例行试验时先打耐压再连接这个接地。如果生产线检验时无法实现先检验再连接就不检了。当做是：the test is considered to be inappropriate.
* E$ @' v2 Z8 g6 ]
作者: stonebird911    时间: 2012-8-11 01:15
山炮 发表于 2012-8-6 13:37
. o! p1 \3 s6 i: j& D+ u因为是在成品上进行试验，可能会导致双重绝缘中的基本绝缘或附加绝缘承受了不该承受的高电压，也可能是II类 ...
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大虾，想请教一下LED灯具控制装置输出部分的电气强度需要单独试验吗？
作者: 山炮    时间: 2012-8-11 15:09
会造成损坏的情况下就不应该试验。会导致基本绝缘或附加绝缘承受不该承受的电压时也不试验。部分LED灯具耐压试验常出现死珠坏珠，那就不该试验。保留不适合试验的证据，如受损情况，击穿点形成的真实路径分析，可以堵住审查人员的嘴，这时将耐压试验前移至某些工序前进行就有理有据。真正的耐压试验永远是让电压施加在受试绝缘，而不是通过电子器件后再施加到绝缘上。一个电子产品，打耐压就是将高压施加于电源输入端与易触及端，这样是错误，是原理上的错误，绝缘或跨接的保护阻抗形成的漏电流让一次回路中的电子零件与二次回路上的零件承受了不该承受的电压，产生损坏就在所难免。
作者: craigyu    时间: 2012-8-11 23:16
山炮 发表于 2012-8-11 15:09 2 l$ k) P8 v$ u" [% o$ }
会造成损坏的情况下就不应该试验。会导致基本绝缘或附加绝缘承受不该承受的电压时也不试验。部分LED灯具耐压 ...

9 {) o4 f. E. s( m6 |& M; p- F这话我很同意，但是我听说LED在测试时如果打坏或者点亮了，即使没击穿也是不接受的？没想明白是为什么，也没人给我解释。
作者: 山炮    时间: 2012-8-12 10:03
仅从安规角度，打坏点亮是可接受的。但客户肯定不接受。有暗伤的LED，光衰很快。
作者: liuyingcai    时间: 2012-9-6 22:33
呵呵，跟你们学了不少。



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