zihui 发表于 2007-9-29 09:37

L-N短路对外壳打高压,是考量外壳的绝缘程度吗?

L-N短路对外壳打高压,是考量外壳的绝缘程度吗?

RodgerLan 发表于 2007-9-29 09:47

耐压测试是一种无破坏性的测试，它用来检测经常发生的瞬态高压下产品的绝缘能力是否合格。它在一定时间内施加高压到被测试设备以确保设备的绝缘性能足够强。进行这项测试的另一个原因是它也可以检测出仪器的一些缺陷，例如制造过程中出现的爬电距离不足和电气间隙不够等问题。

kevin1946 发表于 2007-9-29 11:46

高压是来检测绝缘的，一提到绝缘就应该想到两个导电体，它们之间需要绝缘；对于你提到的LN与外壳之间的耐压，是来检测危险带电体L/N与可接触导电体外壳之间的绝缘（如果是塑胶外壳就是指可能接触到外壳的导电体如人手等）。

耐压测试有无破坏性属于无定论的事情，一般情况下不会有破坏性，但目前产品中使用的半导体器件越来越多，有可能产生了破坏性发现不了，另外如果等电位连接不好极易造成器件的破坏！所以耐压测试不是越高越好！

Jim-Guo 发表于 2007-10-5 01:39

引用第0楼zihui于2007-09-29 09:37发表的 L-N短路对外壳打高压,是考量外壳的绝缘程度吗? :
L-N短路对外壳打高压,是考量外壳的绝缘程度吗?

是考量外壳的绝缘程度,且还考验壳之间的间隙是否满足要求.

zihui 发表于 2007-10-6 17:47

linrong0812 发表于 2012-7-22 08:43

是考量绝经的等级，还有就是电气介隙和爬电距离

abu013 发表于 2012-7-22 22:00

考虑绝缘材料的绝缘性能

大视野 发表于 2012-8-7 16:25

都是DSP、单片机的真的不知道有没有暗伤啊，这些又是难题。:dizzy:

tjuking 发表于 2012-8-7 16:57

我感觉主要是验证外壳的电气间隙

sharkxiao 发表于 2012-8-7 17:03

就算L/N到外壳之间！
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