fanxue3 发表于 2010-5-10 21:46

冷热冲击试验方法研究--原创研究，盼加精。

冷热冲击试验方法研究--原创研究

jsbao 发表于 2010-5-11 05:53

应该写明是电子元件冲击试验

7700 发表于 2010-5-18 19:13

感謝分享，謝謝

jxcyf 发表于 2010-5-19 08:20

我以为是LED灯具相关测试呢，不过还是要谢谢楼主的分享。

hmilyxth 发表于 2010-5-19 09:53

很有参考意义，谢谢分享。
第一页，1.3目的及应用范围：为避免系统/组件内的电热扩散抑制系统/组件达到低温的效果，故在降温阶段将产品关闭。对这句话不太理解。我在做美国GE公司的产品试验时，其在降温阶段是不工作的，只在升温和高温保持阶段工作，望专家帮忙解释一下，谢谢！
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