harlan.tan 发表于 2012-8-29 20:26

8.1.1对触及带电部件的防护

标准8.1.2是否允许PROBE 13或PROBE B通过带有涂层的接地的金属外壳上的开口触碰到内部的基本绝缘?因标准只提到不能触及带电体。另外这是否属于二类结构呢？

liuyingcai 发表于 2012-8-29 22:00

如金属外壳已经接地，则允许测试手指通过外壳上的开口接触到内部 已绝缘的带电体。:)

阿宁 发表于 2012-8-30 08:47

试验探棒在接触到基本绝缘时，必然会与接地的金属外壳发生接触，则允许。参见CTL决议DSH-507

qin.cq 发表于 2012-8-30 09:00

是属于二类结构

willing 发表于 2012-8-30 10:21

有接地的金属外壳, 怎么还是二类?

kelvinwen 发表于 2012-8-31 09:26

首先，我们来判断PROBE B通过带有涂层的接地的金属外壳上的开口触碰到内部的基本绝缘是否符合要求？
1）如果试验指可以碰到基本绝缘，但不能同时碰到接地金属部件，那么这样的开口为二类结构。
----在标准8.2条中，2类结构对仅用基本绝缘与带电部件隔开的金属部件意外接触应有足够的防护。
2）如果是2类结构，那么标准规定只允许触及到那些由双重绝缘或加强绝缘与带电部件隔开的部件。
看了507的决议才有明确答案，就是同时触及基本绝缘和接地金属部件，可以接受这种开口，认为接地是一种保护措施。

kelvinwen 发表于 2012-8-31 09:27

willing 发表于 2012-8-30 10:21 static/image/common/back.gif
有接地的金属外壳, 怎么还是二类?

一类电器，二类结构。

山炮 发表于 2012-8-31 10:16

有涂层，不认为试验指接触基本绝缘的同时能有效碰触接地金属。

willing 发表于 2012-9-3 14:15

kelvinwen 发表于 2012-8-31 09:27 static/image/common/back.gif
一类电器，二类结构。

l理解, 谢谢!
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