山炮 发表于 2012-6-20 23:24

插头插座的温升试验

（觉得很有趣）
1.配套的试验用标准插头或插座是如何选取的？
2.每次插合时形成的接触电阻不见得相同，不同的插头插座之间也会形成很大的差别，那么，我们进行的温升试验，其结果的重复性如何？

caoqingquan 发表于 2012-6-21 09:40

如果产品的工艺，材料相同，即使不同样品的测试数据不相同，但也不会相差很大。如果测试中有问题，那测试数据应该是客观反映产品情况的。

zy3618 发表于 2012-6-25 22:58

有种在做温升前是先做正常操作试验

山炮 发表于 2012-6-25 23:38

我曾经测试过三种干电池的夹座，一种是充电电池测试用的四点法电镀夹座，接触电阻分布在10~50毫欧范围；一种是镀银夹座，接触电阻分布在5~10毫欧范围；一种是镀金夹座，接触电阻分布在3~10毫欧范围。可见接触电阻的分布差异是很大的。正如一只用了几年的垃圾数字万用表的200欧档，表笔短路时经常显示个10欧8欧的，左拧右拧一轮，运气好时会出现1欧以下。我们假定插座插头的温升是与接触电阻强烈相关，那么端子的温升这一次试验时测得20K，插拔几次再测，会不会出现30K呢？也就是说，测量的结果的再现性如何？

jeremyho88 发表于 2012-6-26 14:13

对于插头，倒是没有什么疑问，标准都有标准的铜块来充当插座；但是对于插座的温升，所谓的标准差头就难找了。像VDE，是有单独的图面，但GB和IEC，只能仁者见仁智者见智了。不小心用一个水货插头，那你的插座就惨了:'(

jeremyho88 发表于 2012-6-29 16:48

山炮 发表于 2012-6-25 23:38 static/image/common/back.gif
我曾经测试过三种干电池的夹座，一种是充电电池测试用的四点法电镀夹座，接触电阻分布在10~50毫欧范围；一种 ...

一直怕怕的是，有时候送插座的样品出去，担心弹片表面氧化。如果直接插入测试插头，会不会温升出问题呢？如果实验员反复插几次，会不会好点呢？
页: [1]
查看完整版本: 插头插座的温升试验